Sistem Pemeriksaan Kecacatan Sebaris Bersepadu untuk Perovskite Photovoltaics direka untuk kawalan kualiti dalam pengeluaran berterusan filem, sel dan modul nipis kawasan besar. Mengintegrasikan photoluminescence (PL), electroluminescence (EL), dan pemeriksaan optik automatik (AOI), sistem sebaris menyokong pengimejan imbasan garisan dan imbasan kawasan dan boleh dikonfigurasikan agar sesuai dengan dimensi sampel, peringkat proses dan masa kitaran pengeluaran, membolehkan pemeriksaan kawasan penuh pada peringkat pembuatan kritikal. Dengan menganalisis keamatan luminescence dan taburan spatial bersama imej medan terang dan gelap, sistem mengenal pasti ketidakseragaman filem, bintik gelap, retak, anomali permukaan dan kegagalan elektrik setempat. Algoritma AI menyediakan anotasi kecacatan, klasifikasi dan analisis statistik, manakala pengesanan kecacatan merentas peringkat proses membantu mengenal pasti dari mana keabnormalan berasal. Keupayaan ini menyokong usaha untuk menghalang produk yang rosak daripada berkembang kepada operasi seterusnya, meningkatkan konsistensi kelompok ke kelompok dan mengoptimumkan proses pembuatan.
Tanya
