Produk

Sistem TAU‑9000 menggunakan pengimejan spektroskopi transien ultrafast berasaskan pam untuk mencapai pencirian resolusi temporal dan spatial yang tinggi bagi jangka hayat pembawa minoriti wafer. Pembawa janaan foto teruja oleh cahaya pam, dan dinamik pereputannya diukur melalui pengimejan yang diselesaikan masa, membolehkan penilaian tepat tentang kesan kehelan, kecacatan titik dan pencemaran permukaan pada jangka hayat pembawa, dengan itu mencerminkan kualiti wafer keseluruhan.