สินค้า-แบนเนอร์
ระบบตรวจสอบข้อบกพร่องแบบอินไลน์แบบรวมสำหรับไฟฟ้าโซลาร์เซลล์เพอรอฟสกี้
ระบบตรวจสอบข้อบกพร่องแบบอินไลน์แบบรวมสำหรับไฟฟ้าโซลาร์เซลล์เพอรอฟสกี้
ระบบตรวจสอบข้อบกพร่องอินไลน์แบบรวมสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดเพอรอฟสกี้ ได้รับการออกแบบมาเพื่อการควบคุมคุณภาพในการผลิตฟิล์มบาง เซลล์ และโมดูลในพื้นที่ขนาดใหญ่อย่างต่อเนื่อง ด้วยการผสานรวมโฟโตลูมิเนสเซนซ์ (PL), อิเล็กโตรลูมิเนสเซนซ์ (EL) และการตรวจสอบด้วยแสงอัตโนมัติ (AOI) ระบบอินไลน์รองรับทั้งการสแกนเส้นและการสแกนพื้นที่ และสามารถกำหนดค่าให้เหมาะกับขนาดตัวอย่าง ขั้นตอนกระบวนการ และเวลารอบการผลิต ช่วยให้สามารถตรวจสอบพื้นที่เต็มพื้นที่ในขั้นตอนการผลิตที่สำคัญได้ ด้วยการวิเคราะห์ความเข้มของการเรืองแสงและการกระจายเชิงพื้นที่ควบคู่ไปกับภาพสนามที่สว่างและมืด ระบบจะระบุความไม่สม่ำเสมอของฟิล์ม จุดด่างดำ รอยแตก ความผิดปกติของพื้นผิว และไฟฟ้าขัดข้องเฉพาะที่ อัลกอริธึม AI ให้คำอธิบายประกอบข้อบกพร่อง การจำแนกประเภท และการวิเคราะห์ทางสถิติ ในขณะที่การติดตามข้อบกพร่องตลอดขั้นตอนกระบวนการจะช่วยระบุจุดที่เกิดความผิดปกติ ความสามารถเหล่านี้สนับสนุนความพยายามในการป้องกันไม่ให้ผลิตภัณฑ์ที่มีข้อบกพร่องคืบหน้าไปสู่การดำเนินงานตามมา ปรับปรุงความสอดคล้องกันของแบทช์ต่อแบทช์ และเพิ่มประสิทธิภาพกระบวนการผลิต
สอบถาม

คุณสมบัติ

01

การตรวจสอบ PL, EL และ AOI

02

ปริมาณงานสูง: การสแกนในไม่กี่วินาที

03

การตรวจสอบพื้นที่ขนาดใหญ่: สูงสุด 1.2 × 2.4 ม

04

ความละเอียดสูง: ~70 ไมโครเมตร

ข้อมูลจำเพาะ

พารามิเตอร์ทั่วไป
ขนาดตัวอย่าง 0.6 ม. × 1.2 ม. (ปรับแต่งเพื่อรองรับขนาดตัวอย่างที่แตกต่างกัน)
ความละเอียดเชิงพื้นที่ ประมาณ 70 µm/พิกเซล
การถ่ายภาพสแกนเส้น
แหล่งกระตุ้น แหล่งกำเนิดแสงเส้น LED 532 นาโนเมตร (ความยาวคลื่นอื่น ๆ ก็ได้); เลเซอร์เส้น 532 นาโนเมตร (ความยาวคลื่นอื่นๆ เป็นตัวเลือก)
ความเร็วในการตรวจสอบ <30 [ไม่ได้ระบุหน่วย] ขึ้นอยู่กับความเร็วในการขนส่งตัวอย่าง
การถ่ายภาพสแกนพื้นที่
แหล่งกระตุ้น แหล่งกำเนิดแสง LED พื้นที่ 532 นาโนเมตร (ความยาวคลื่นอื่นๆ ก็ได้)
เวลาตรวจสอบ <5 วิ
การตรวจสอบภาพ EL
เวลาตรวจสอบ <5 วิ
โหมดเอาท์พุตของพาวเวอร์ซัพพลาย กระแสคงที่และแรงดันคงที่
แรงดันและกระแสไฟขาออก ช่วงเอาต์พุตและความแม่นยำสามารถปรับแต่งได้
ความสามารถเพิ่มเติม
การวิเคราะห์เอไอ การระบุข้อบกพร่องโดยใช้ AI
การติดตามกระบวนการ การติดตามวิวัฒนาการของข้อบกพร่องในขั้นตอนกระบวนการต่างๆ
การถ่ายภาพขั้นสูง การวิเคราะห์ภาพ PLQY และ QFLS

PLQY: ผลผลิตควอนตัมเรืองแสง QFLS: การแยกระดับกึ่งเฟอร์มี

ตัวอย่าง

① ผลลัพธ์การถ่ายภาพที่วัดได้

ผลลัพธ์การถ่ายภาพที่วัดได้

② การระบุข้อบกพร่องอัตโนมัติและการติดตามกระบวนการ

การระบุข้อบกพร่องอัตโนมัติและการติดตามกระบวนการ
ด้วยการนำเสนอโซลูชันที่เป็นนวัตกรรม เชื่อถือได้ และปรับขนาดได้ เราช่วยให้อุตสาหกรรมต่างๆ บรรลุความแม่นยำและประสิทธิภาพที่ไม่มีใครเทียบได้ ขับเคลื่อนความก้าวหน้าในการวิจัยและการผลิตทั่วโลก
ลิขสิทธิ์ © 2025 ไทม์ เทค สเปกตรัม สงวนลิขสิทธิ์.| แผนผังเว็บไซต์ | นโยบายความเป็นส่วนตัว