ផលិតផល - បដា
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពក្នុងបណ្តាញរួមបញ្ចូលគ្នាសម្រាប់ Perovskite Photovoltaics
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពក្នុងបណ្តាញរួមបញ្ចូលគ្នាសម្រាប់ Perovskite Photovoltaics
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពក្នុងបណ្តាញរួមបញ្ចូលគ្នាសម្រាប់ Perovskite Photovoltaics ត្រូវបានរចនាឡើងសម្រាប់ការត្រួតពិនិត្យគុណភាពនៅក្នុងការផលិតជាបន្តបន្ទាប់នៃខ្សែភាពយន្តស្តើង កោសិកា និងម៉ូឌុល។ ការរួមបញ្ចូល photoluminescence (PL) electroluminescence (EL) និងការត្រួតពិនិត្យអុបទិកស្វ័យប្រវត្តិ (AOI) ប្រព័ន្ធខាងក្នុងគាំទ្រទាំងការស្កេនបន្ទាត់ និងរូបភាពស្កែនតំបន់ ហើយអាចត្រូវបានកំណត់រចនាសម្ព័ន្ធឱ្យសមស្របទៅនឹងវិមាត្រគំរូ ដំណាក់កាលដំណើរការ និងពេលវេលានៃវដ្តផលិតកម្ម ដែលអនុញ្ញាតឱ្យមានការត្រួតពិនិត្យពេញផ្ទៃនៅដំណាក់កាលផលិតកម្មសំខាន់ៗ។ តាមរយៈការវិភាគអាំងតង់ស៊ីតេនៃពន្លឺ និងការចែកចាយលំហជាមួយនឹងរូបភាពភ្លឺ និងងងឹត ប្រព័ន្ធកំណត់អត្តសញ្ញាណភាពមិនស្មើគ្នានៃខ្សែភាពយន្ត ចំណុចងងឹត ស្នាមប្រេះ ភាពមិនប្រក្រតីនៃផ្ទៃ និងការដាច់ចរន្តអគ្គិសនីដែលបានធ្វើមូលដ្ឋានីយកម្ម។ ក្បួនដោះស្រាយ AI ផ្តល់នូវចំណារពន្យល់ពិការភាព ចំណាត់ថ្នាក់ និងការវិភាគស្ថិតិ ខណៈពេលដែលការតាមដានពិការភាពនៅទូទាំងដំណាក់កាលដំណើរការជួយកំណត់កន្លែងដែលភាពមិនប្រក្រតីកើតឡើង។ សមត្ថភាពទាំងនេះគាំទ្រដល់កិច្ចខិតខំប្រឹងប្រែងដើម្បីការពារផលិតផលដែលមានបញ្ហាពីការវិវត្តទៅជាប្រតិបត្តិការជាបន្តបន្ទាប់ ធ្វើអោយប្រសើរឡើងនូវភាពស៊ីសង្វាក់គ្នាជាបាច់ និងធ្វើឱ្យដំណើរការផលិតកម្មប្រសើរឡើង។
សាកសួរ

លក្ខណៈពិសេស

01

អធិការកិច្ច PL, EL & AOI

02

កម្រិតបញ្ជូនខ្ពស់៖ ស្កេនជាវិនាទី

03

ការត្រួតពិនិត្យផ្ទៃធំ៖ រហូតដល់ 1.2 × 2.4 ម៉ែត្រ

04

គុណភាពបង្ហាញខ្ពស់: ~ 70 μm

លក្ខណៈបច្ចេកទេស

ប៉ារ៉ាម៉ែត្រធម្មតា។
ទំហំគំរូ 0.6 m × 1.2 m (ប្ដូរតាមបំណងដើម្បីសម្រុះសម្រួលទំហំគំរូផ្សេងគ្នា)
ដំណោះស្រាយលំហ ប្រហែល 70 μm / ភីកសែល
រូបភាពស្កែនបន្ទាត់
ប្រភពរំភើប ប្រភពពន្លឺ LED 532 nm (ប្រវែងរលកផ្សេងទៀតស្រេចចិត្ត); ឡាស៊ែរបន្ទាត់ 532 nm (ប្រវែងរលកផ្សេងទៀតជាជម្រើស)
ល្បឿនត្រួតពិនិត្យ <30 [ឯកតាមិនបានបញ្ជាក់] អាស្រ័យលើល្បឿនដឹកជញ្ជូនគំរូ
រូបភាពស្កែនតំបន់
ប្រភពរំភើប ប្រភពពន្លឺតំបន់ LED 532 nm (ជាជម្រើសប្រវែងរលកផ្សេងទៀត)
ពេលវេលាត្រួតពិនិត្យ <5 វិ
ការត្រួតពិនិត្យរូបភាព EL
ពេលវេលាត្រួតពិនិត្យ <5 វិ
របៀបទិន្នផលការផ្គត់ផ្គង់ថាមពល ចរន្តថេរនិងវ៉ុលថេរ
វ៉ុលនិងទិន្នផលបច្ចុប្បន្ន ជួរលទ្ធផល និងភាពត្រឹមត្រូវអាចប្ដូរតាមបំណងបាន។
សមត្ថភាពបន្ថែម
ការវិភាគ AI ការកំណត់អត្តសញ្ញាណពិការភាពផ្អែកលើ AI
ការតាមដានដំណើរការ ការតាមដានការវិវត្តនៃពិការភាពនៅទូទាំងដំណាក់កាលដំណើរការផ្សេងៗគ្នា
រូបភាពកម្រិតខ្ពស់ ការវិភាគរូបភាព PLQY និង QFLS

PLQY: photoluminescence quantum ទិន្នផល។ QFLS: ការបំបែកកម្រិត quasi-Fermi ។

ឧទាហរណ៍

① លទ្ធផលរូបភាពដែលបានវាស់វែង

លទ្ធផលរូបភាពដែលបានវាស់វែង

② ការកំណត់អត្តសញ្ញាណពិការភាពដោយស្វ័យប្រវត្តិ និងការតាមដានដំណើរការ

ការកំណត់អត្តសញ្ញាណពិការភាពដោយស្វ័យប្រវត្តិ និងតាមដានដំណើរការ
តាមរយៈការផ្តល់ដំណោះស្រាយប្រកបដោយភាពច្នៃប្រឌិត ដែលអាចទុកចិត្តបាន និងអាចធ្វើមាត្រដ្ឋានបាន យើងផ្តល់សិទ្ធិអំណាចដល់ឧស្សាហកម្មនានា ដើម្បីសម្រេចបាននូវភាពជាក់លាក់ និងប្រសិទ្ធភាពដែលមិនអាចប្រៀបផ្ទឹមបាន ដែលជំរុញឱ្យមានវឌ្ឍនភាពក្នុងការស្រាវជ្រាវ និងការផលិតនៅទូទាំងពិភពលោក។
រក្សាសិទ្ធិ © 2025 Time Tech Spectra ។ រក្សាសិទ្ធិគ្រប់យ៉ាង..| ផែនទីគេហទំព័រ | គោលការណ៍ឯកជនភាព