spanduk produk
Sistem Inspeksi Cacat Inline Terintegrasi untuk Fotovoltaik Perovskit
Sistem Inspeksi Cacat Inline Terintegrasi untuk Fotovoltaik Perovskit
Sistem Inspeksi Cacat Inline Terintegrasi untuk Fotovoltaik Perovskit dirancang untuk kontrol kualitas dalam produksi berkelanjutan film tipis, sel, dan modul area luas. Mengintegrasikan photoluminescence (PL), electroluminescence (EL), dan inspeksi optik otomatis (AOI), sistem inline mendukung pencitraan pemindaian garis dan pemindaian area dan dapat dikonfigurasi agar sesuai dengan dimensi sampel, tahapan proses, dan waktu siklus produksi, memungkinkan inspeksi area penuh pada tahap produksi yang penting. Dengan menganalisis intensitas pendaran dan distribusi spasial bersama dengan gambar bidang terang dan gelap, sistem mengidentifikasi ketidakseragaman film, titik gelap, retakan, anomali permukaan, dan kegagalan listrik lokal. Algoritme AI menyediakan anotasi cacat, klasifikasi, dan analisis statistik, sementara pelacakan cacat di seluruh tahap proses membantu mengidentifikasi asal mula kelainan. Kemampuan ini mendukung upaya untuk mencegah produk cacat berlanjut ke operasi berikutnya, meningkatkan konsistensi batch-to-batch, dan mengoptimalkan proses manufaktur.
Menanyakan

Fitur

01

Inspeksi PL, EL & AOI

02

Throughput Tinggi: Pemindaian dalam Hitungan Detik

03

Inspeksi Area Besar: Hingga 1,2 × 2,4 m

04

Resolusi Tinggi: ~70 μm

Spesifikasi

Parameter Khas
Ukuran Sampel 0,6 m × 1,2 m (dapat disesuaikan untuk mengakomodasi dimensi sampel yang berbeda)
Resolusi Spasial Sekitar 70 μm/piksel
Pencitraan Pemindaian Garis
Sumber Eksitasi Sumber cahaya garis LED 532 nm (panjang gelombang lainnya opsional); Laser garis 532 nm (panjang gelombang lainnya opsional)
Kecepatan Inspeksi <30 [unit tidak ditentukan], tergantung pada kecepatan pengangkutan sampel
Pencitraan Pemindaian Area
Sumber Eksitasi Sumber cahaya area LED 532 nm (panjang gelombang lainnya opsional)
Waktu Inspeksi <5 detik
Inspeksi Pencitraan EL
Waktu Inspeksi <5 detik
Mode Keluaran Catu Daya Arus konstan dan tegangan konstan
Tegangan & Keluaran Arus Rentang keluaran dan akurasi dapat disesuaikan
Kemampuan Tambahan
Analisis AI Identifikasi cacat berbasis AI
Pelacakan Proses Pelacakan evolusi cacat di berbagai tahapan proses
Pencitraan Tingkat Lanjut Analisis pencitraan PLQY dan QFLS

PLQY: hasil kuantum fotoluminesensi. QFLS: pemisahan level kuasi-Fermi.

Contoh

① Hasil Pencitraan Terukur

Hasil Pencitraan Terukur

② Identifikasi Cacat Otomatis dan Pelacakan Proses

Identifikasi Cacat Otomatis dan Pelacakan Proses
Dengan memberikan solusi yang inovatif, andal, dan terukur, kami memberdayakan industri untuk mencapai presisi dan efisiensi yang tak tertandingi, sehingga mendorong kemajuan dalam penelitian dan manufaktur di seluruh dunia.
Hak Cipta © 2025 Time Tech Spectra. Semua Hak Dilindungi Undang-undang.| Peta Situs | Kebijakan Privasi