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Sistema integrado de inspeção de defeitos em linha para energia fotovoltaica de perovskita
Sistema integrado de inspeção de defeitos em linha para energia fotovoltaica de perovskita
O sistema integrado de inspeção de defeitos em linha para energia fotovoltaica de perovskita foi projetado para controle de qualidade na produção contínua de filmes finos, células e módulos de grandes áreas. Integrando fotoluminescência (PL), eletroluminescência (EL) e inspeção óptica automatizada (AOI), o sistema em linha suporta imagens de varredura de linha e de área e pode ser configurado para se adequar às dimensões da amostra, aos estágios do processo e aos tempos do ciclo de produção, permitindo a inspeção de área completa em estágios críticos de fabricação. Ao analisar a intensidade da luminescência e a distribuição espacial juntamente com imagens de campo claro e escuro, o sistema identifica não uniformidade do filme, manchas escuras, rachaduras, anomalias de superfície e falhas elétricas localizadas. Os algoritmos de IA fornecem anotação, classificação e análise estatística de defeitos, enquanto o rastreamento de defeitos em todos os estágios do processo ajuda a identificar a origem das anormalidades. Esses recursos apoiam os esforços para evitar que produtos defeituosos progridam para operações subsequentes, melhoram a consistência entre lotes e otimizam os processos de fabricação.
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Características

01

Inspeção PL, EL e AOI

02

Alto rendimento: digitalização em segundos

03

Inspeção de grandes áreas: até 1,2 × 2,4 m

04

Alta resolução: ~70 μm

Especificações

Parâmetros típicos
Tamanho da amostra 0,6 m × 1,2 m (personalizável para acomodar diferentes dimensões de amostra)
Resolução Espacial Aproximadamente 70 μm/pixel
Imagem de varredura de linha
Fontes de excitação Fonte de luz de linha LED de 532 nm (outros comprimentos de onda opcionais); Laser de linha de 532 nm (outros comprimentos de onda opcionais)
Velocidade de inspeção <30 [unidade não especificada], dependendo da velocidade de transporte da amostra
Imagem de digitalização de área
Fonte de excitação Fonte de luz de área LED de 532 nm (outros comprimentos de onda opcionais)
Tempo de inspeção <5 segundos
Inspeção de imagem EL
Tempo de inspeção <5 segundos
Modos de saída da fonte de alimentação Corrente constante e tensão constante
Saída de tensão e corrente As faixas de saída e a precisão são personalizáveis
Capacidades Adicionais
Análise de IA Identificação de defeitos baseada em IA
Rastreamento de Processo Acompanhamento da evolução dos defeitos em diferentes estágios do processo
Imagem Avançada Análise de imagens PLQY e QFLS

PLQY: rendimento quântico de fotoluminescência. QFLS: divisão de nível quase-Fermi.

Exemplos

① Resultados de imagens medidos

Resultados de imagens medidos

② Identificação automatizada de defeitos e rastreamento de processos

Identificação automatizada de defeitos e rastreamento de processos
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