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ペロブスカイト太陽光発電用統合インライン欠陥検査システム
ペロブスカイト太陽光発電用統合インライン欠陥検査システム
ペロブスカイト太陽光発電用の統合インライン欠陥検査システムは、大面積の薄膜、セル、モジュールの連続生産における品質管理を目的として設計されています。フォトルミネッセンス (PL)、エレクトロルミネッセンス (EL)、および自動光学検査 (AOI) を統合したインライン システムは、ラインスキャン イメージングとエリア スキャン イメージングの両方をサポートし、サンプル寸法、プロセス ステージ、生産サイクル タイムに合わせて構成できるため、重要な製造段階での全エリ​​ア検査が可能になります。このシステムは、明視野画像と暗視野画像とともに発光強度と空間分布を分析することで、フィルムの不均一性、ダークスポット、亀裂、表面異常、および局所的な電気的故障を特定します。 AI アルゴリズムは欠陥の注釈、分類、統計分析を提供し、プロセス段階全体にわたる欠陥追跡は異常の原因を特定するのに役立ちます。これらの機能は、欠陥製品が後続の作業に移行するのを防ぎ、バッチ間の一貫性を向上させ、製造プロセスを最適化する取り組みをサポートします。
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特徴

01

PL、EL、AOI検査

02

高スループット: 数秒でスキャン

03

大面積検査:最大1.2×2.4m

04

高解像度: ~70 μm

仕様

代表的なパラメータ
サンプルサイズ 0.6 m × 1.2 m (さまざまなサンプル寸法に合わせてカスタマイズ可能)
空間解像度 約70μm/ピクセル
ラインスキャンイメージング
励起源 532 nm LED ライン光源 (他の波長はオプション); 532 nm ラインレーザー (他の波長はオプション)
検査速度 <30 [単位は指定されていません]、サンプルの搬送速度に応じて異なります
エリアスキャンイメージング
励起源 532 nm LED 面光源 (他の波長はオプション)
検査時間 <5秒
EL画像検査
検査時間 <5秒
電源出力モード 定電流・定電圧
電圧および電流出力 出力範囲と精度はカスタマイズ可能
追加機能
AI分析 AI ベースの欠陥特定
プロセス追跡 さまざまなプロセス段階にわたる欠陥の進化の追跡
高度なイメージング PLQYおよびQFLS画像解析

PLQY: フォトルミネッセンス量子収率。 QFLS: 準フェルミ準位分割。

例

①画像測定結果

画像測定結果

② 自動欠陥特定と工程追跡

自動化された欠陥の特定とプロセス追跡
革新的で信頼性が高く、スケーラブルなソリューションを提供することで、業界が比類のない精度と効率を達成できるようにし、世界中の研究と製造の進歩を推進します。
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