Hệ thống kiểm tra khuyết tật nội tuyến tích hợp cho quang điện Perovskite được thiết kế để kiểm soát chất lượng trong quá trình sản xuất liên tục các màng mỏng, tế bào và mô-đun diện tích lớn. Tích hợp quang phát quang (PL), điện phát quang (EL) và kiểm tra quang học tự động (AOI), hệ thống nội tuyến hỗ trợ cả hình ảnh quét dòng và quét khu vực, đồng thời có thể được cấu hình để phù hợp với kích thước mẫu, các giai đoạn xử lý và thời gian chu kỳ sản xuất, cho phép kiểm tra toàn bộ khu vực ở các giai đoạn sản xuất quan trọng. Bằng cách phân tích cường độ phát quang và sự phân bổ không gian cùng với hình ảnh trường sáng và trường tối, hệ thống xác định tính không đồng nhất của màng, các điểm tối, vết nứt, dị thường bề mặt và sự cố điện cục bộ. Các thuật toán AI cung cấp chú thích lỗi, phân loại và phân tích thống kê, trong khi việc theo dõi lỗi qua các giai đoạn của quy trình giúp xác định nguồn gốc của các bất thường. Những khả năng này hỗ trợ các nỗ lực nhằm ngăn chặn các sản phẩm bị lỗi chuyển sang các hoạt động tiếp theo, cải thiện tính nhất quán giữa các lô và tối ưu hóa quy trình sản xuất.
hỏi thăm
