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Sistema integrado de inspección de defectos en línea para energía fotovoltaica de perovskita
Sistema integrado de inspección de defectos en línea para energía fotovoltaica de perovskita
El sistema integrado de inspección de defectos en línea para energía fotovoltaica de perovskita está diseñado para el control de calidad en la producción continua de películas delgadas, células y módulos de gran superficie. Al integrar fotoluminiscencia (PL), electroluminiscencia (EL) e inspección óptica automatizada (AOI), el sistema en línea admite imágenes de escaneo de línea y de área y se puede configurar para adaptarse a las dimensiones de la muestra, las etapas del proceso y los tiempos del ciclo de producción, lo que permite una inspección de área completa en etapas críticas de fabricación. Al analizar la intensidad de la luminiscencia y la distribución espacial junto con imágenes de campo brillante y oscuro, el sistema identifica la falta de uniformidad de la película, puntos oscuros, grietas, anomalías superficiales y fallas eléctricas localizadas. Los algoritmos de IA proporcionan anotaciones, clasificación y análisis estadístico de defectos, mientras que el seguimiento de defectos en las etapas del proceso ayuda a identificar dónde se originan las anomalías. Estas capacidades respaldan los esfuerzos para evitar que los productos defectuosos avancen a operaciones posteriores, mejorar la coherencia entre lotes y optimizar los procesos de fabricación.
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Características

01

Inspección PL, EL y AOI

02

Alto rendimiento: escaneo en segundos

03

Inspección de áreas grandes: hasta 1,2 × 2,4 m

04

Alta resolución: ~70 μm

Presupuesto

Parámetros típicos
Tamaño de la muestra 0,6 m × 1,2 m (personalizable para adaptarse a diferentes dimensiones de muestra)
Resolución espacial Aproximadamente 70 μm/píxel
Imágenes de escaneo de línea
Fuentes de excitación Fuente de luz de línea LED de 532 nm (otras longitudes de onda opcionales); Láser de línea de 532 nm (otras longitudes de onda opcionales)
Velocidad de inspección <30 [unidad no especificada], dependiendo de la velocidad de transporte de la muestra
Imágenes de escaneo de área
Fuente de excitación Fuente de luz de área LED de 532 nm (otras longitudes de onda opcionales)
Tiempo de inspección <5 segundos
Inspección de imágenes EL
Tiempo de inspección <5 segundos
Modos de salida de la fuente de alimentación Corriente constante y voltaje constante.
Salida de voltaje y corriente Los rangos de salida y la precisión son personalizables
Capacidades adicionales
Análisis de IA Identificación de defectos basada en IA
Seguimiento de procesos Seguimiento de la evolución de los defectos en las diferentes etapas del proceso.
Imágenes avanzadas Análisis de imágenes PLQY y QFLS.

PLQY: rendimiento cuántico de fotoluminiscencia. QFLS: división del nivel cuasi-Fermi.

Ejemplos

① Resultados de imágenes medidos

Resultados de imágenes medidos

② Identificación automatizada de defectos y seguimiento de procesos

Identificación automatizada de defectos y seguimiento de procesos
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