DISPEC-9000 Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat SiC Tanpa Musnah Automatik
Rumah » Produk » Siri Pemeriksaan Optik Semikonduktor » Sistem Pemeriksaan Kecacatan Dislokasi Substrat SiC DISPEC-9000 Automatik Tidak Musnah

Produk

Pilih Siri Produk Pilih Siri Produk
  • Siri Penyerapan Sementara
    • TA AUTO/MINI - TAS Ultrafast

        Tiada klasifikasi

    • LFP100 - Fotolisis Kilat

        Tiada klasifikasi

    • UPSI100 - Pengimejan Shadowgraph Pam-Probe

        Tiada klasifikasi

    • THZ100 - Terahertz

        Tiada klasifikasi

  • Siri Spektroskopi Pendarfluor
    • TPL300 - Pendarfluor Keadaan Steady/Transient

        Tiada klasifikasi

    • Sistem Pencirian Komprehensif Semikonduktor Jurang Jalur Lebar

        Tiada klasifikasi

    • UF100 - Pendarfluor Ultrapantas

        Tiada klasifikasi

    • FLIM300 - Mikroskopi Pengimejan Sepanjang Hayat Pendarfluor Konfokal

        Tiada klasifikasi

  • Siri Optik Bukan Linear
    • ZTS100 - Z-Scan

        Tiada klasifikasi

    • SHG100 - Generasi Harmonik Kedua

        Tiada klasifikasi

  • Siri Kamera CMOS Berkelajuan Tinggi
    • Kamera CMOS Berkelajuan Tinggi

        Tiada klasifikasi

  • Siri Laser
    • FlatTop DPSS ND:YAG Nanosecond Laser

        Tiada klasifikasi

    • FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO Laser

        Tiada klasifikasi

    • Siri Pemeriksaan Optik Semikonduktor
      • DISPEC-9000 Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat SiC Tanpa Musnah Automatik

          Tiada klasifikasi

      • DISPEC-8000 SiC Ingot/Biji/Substrat 3-dalam-1 Sistem Pemeriksaan Kecacatan Dislokasi

          Tiada klasifikasi

      • Sistem Pengimejan Sepanjang Hayat Pembawa Minoriti TAU-9000

          Tiada klasifikasi

      • Analisis Prestasi Sel Suria Perovskite SP-1030

          Tiada klasifikasi

      • Sistem Pengesanan Super-Resolution SR-9000 untuk SiC EPI-Wafers dan Peranti

          Tiada klasifikasi

    • Pengayun/Penguat Parametrik Optik

        Tiada klasifikasi

    • Laser Pewarna Berdenyut Nanosaat Boleh Ditala

        Tiada klasifikasi

  • Kedai
    • Bahagian & Komponen

        Tiada klasifikasi

Sila pilih

    Sila pilih klasifikasi unggul

Sila pilih

    Sila pilih klasifikasi unggul

Sila pilih

    Sila pilih klasifikasi unggul

Sila pilih

    Sila pilih klasifikasi unggul

Siri Penyerapan Sementara

Siri Penyerapan Sementara Siri Spektroskopi Pendarfluor Siri Optik Bukan Linear Siri Kamera Kelajuan Tinggi Siri Laser Siri Pemeriksaan Optik Semikonduktor

DISPEC‑9000, berdasarkan prinsip Pantulan Pam‑Probe termaju, membolehkan pemeriksaan optik tidak merosakkan substrat SiC 6‑, 8‑ dan 12‑inci pantas. Ia mengenal pasti dengan tepat tiga jenis kehelan kritikal (TSD, TED, BPD) sambil juga mengesan SF, MP, rangkuman karbon dan kecacatan polihabluran. Sistem ini menyokong pemeriksaan dwi-sisi bagi kedua-dua muka Si dan C. Daya pemprosesan pemeriksaannya sangat cekap: 4–5 wafer sejam untuk 6‑inci, 2–3 wafer sejam untuk 8‑inci, dan kira-kira 1 jam setiap wafer untuk 12‑inci (pemuatan manual).


Dengan menyampaikan penyelesaian yang inovatif, boleh dipercayai dan berskala, kami memperkasakan industri untuk mencapai ketepatan dan kecekapan yang tiada tandingan, memacu kemajuan dalam penyelidikan dan pembuatan di seluruh dunia.

Kategori Produk

Pautan Pantas

Maklumat Hubungan
Tel: +1(888)-510-0926
Sentiasa Berhubung
Sentiasa Berhubung
Hak Cipta © 2025 Time Tech Spectra. Hak Cipta Terpelihara.｜ Peta laman | Dasar Privasi