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페로브스카이트 태양광발전용 통합 인라인 결함 검사 시스템
페로브스카이트 태양광발전용 통합 인라인 결함 검사 시스템
페로브스카이트 태양광발전용 통합 인라인 결함 검사 시스템은 대면적 박막, 셀 및 모듈의 연속 생산에서 품질 관리를 위해 설계되었습니다. 광발광(PL), 전기발광(EL) 및 자동 광학 검사(AOI)를 통합한 인라인 시스템은 라인 스캔과 영역 스캔 이미징을 모두 지원하고 샘플 치수, 프로세스 단계 및 생산 주기 시간에 맞게 구성할 수 있어 중요한 제조 단계에서 전체 영역 검사가 가능합니다. 명시야 및 암시야 이미지와 함께 발광 강도 및 공간 분포를 분석함으로써 시스템은 필름 불균일성, 어두운 점, 균열, 표면 이상 및 국부적인 전기적 결함을 식별합니다. AI 알고리즘은 결함 주석, 분류 및 통계 분석을 제공하는 동시에 프로세스 단계 전반의 결함 추적은 이상이 발생한 위치를 식별하는 데 도움이 됩니다. 이러한 기능은 결함이 있는 제품이 후속 작업으로 진행되는 것을 방지하고 배치 간 일관성을 개선하며 제조 프로세스를 최적화하려는 노력을 지원합니다.
묻다

특징

01

PL, EL, AOI 검사

02

높은 처리량: 몇 초 만에 스캔

03

넓은 면적 검사: 최대 1.2 × 2.4m

04

고해상도: ~70μm

명세서

일반적인 매개변수
샘플 크기 0.6m × 1.2m(다양한 샘플 크기를 수용하도록 맞춤 설정 가능)
공간 해상도 약 70μm/픽셀
라인 스캔 이미징
여기 소스 532nm LED 라인 광원(다른 파장 선택 가능); 532nm 라인 레이저(다른 파장 선택 가능)
검사속도 <30 [단위 미지정], 시료 이동 속도에 따라 다름
영역 스캔 이미징
여기 소스 532nm LED 영역 광원(다른 파장 선택 가능)
검사시간 5초 미만
EL 이미징 검사
검사시간 5초 미만
전원 공급 장치 출력 모드 정전류 및 정전압
전압 및 전류 출력 출력 범위와 정확도는 사용자 정의 가능
추가 기능
AI 분석 AI 기반 결함 식별
프로세스 추적 다양한 공정 단계에서 결함 진행 추적
고급 이미징 PLQY 및 QFLS 이미징 분석

PLQY: 광발광 양자 수율. QFLS: 준 페르미 레벨 분할.

예

① 측정된 영상 결과

측정된 이미징 결과

② 자동화된 결함 식별 및 프로세스 추적

자동화된 결함 식별 및 프로세스 추적
혁신적이고 안정적이며 확장 가능한 솔루션을 제공함으로써 업계가 비교할 수 없는 정밀도와 효율성을 달성할 수 있도록 지원하고 전 세계적으로 연구 및 제조 분야의 발전을 주도합니다.
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