Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat GaN menggunakan pemeriksaan optik tidak merosakkan untuk mengenal pasti dan mencirikan kecacatan dalam substrat galium nitrida (GaN), menyokong penilaian kualiti bahan dan pembangunan proses. Serasi dengan substrat GaN 2-, 4- dan 6-inci, sistem mengesan pelbagai kecacatan, termasuk kehelan benang, ralat susun, domain penyongsangan, sempadan butiran, lubang-V, lompang dan retak, membantu pengguna memahami jenis kecacatan dan pengedarannya merentasi substrat.
Sistem ini menawarkan suite pengesanan yang boleh disesuaikan dan boleh dikembangkan yang boleh dikonfigurasikan untuk ciri-ciri bahan tertentu dan keperluan pemeriksaan. Kerjasama pembangunan dan aplikasi bersama memperluaskan keupayaannya untuk menangani jenis kecacatan baharu dan kompleks, menyokong keperluan yang berkembang dalam penyelidikan dan pemeriksaan bahan GaN.
Sistem ini menawarkan suite pengesanan yang boleh disesuaikan dan boleh dikembangkan yang boleh dikonfigurasikan untuk ciri-ciri bahan tertentu dan keperluan pemeriksaan. Kerjasama pembangunan dan aplikasi bersama memperluaskan keupayaannya untuk menangani jenis kecacatan baharu dan kompleks, menyokong keperluan yang berkembang dalam penyelidikan dan pemeriksaan bahan GaN.
Tanya
