Sistem Pemeriksaan Cacat Substrat GaN menggunakan inspeksi optik non-destruktif untuk mengidentifikasi dan mengkarakterisasi cacat pada substrat galium nitrida (GaN), mendukung evaluasi kualitas bahan dan pengembangan proses. Kompatibel dengan substrat GaN berukuran 2, 4, dan 6 inci, sistem ini mendeteksi berbagai cacat, termasuk dislokasi threading, kesalahan penumpukan, domain inversi, batas butir, lubang V, rongga, dan retakan, sehingga membantu pengguna memahami jenis cacat dan distribusinya di seluruh substrat.
Sistem ini menawarkan rangkaian deteksi yang dapat disesuaikan dan diperluas yang dapat dikonfigurasikan untuk karakteristik material tertentu dan persyaratan inspeksi. Kolaborasi pengembangan dan aplikasi bersama memperluas kemampuannya untuk mengatasi jenis cacat baru dan kompleks, mendukung kebutuhan yang terus berkembang dalam penelitian dan inspeksi material GaN.
Sistem ini menawarkan rangkaian deteksi yang dapat disesuaikan dan diperluas yang dapat dikonfigurasikan untuk karakteristik material tertentu dan persyaratan inspeksi. Kolaborasi pengembangan dan aplikasi bersama memperluas kemampuannya untuk mengatasi jenis cacat baru dan kompleks, mendukung kebutuhan yang terus berkembang dalam penelitian dan inspeksi material GaN.
Menanyakan
