ផលិតផល - បដា
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម GaN
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម GaN
ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម GaN ប្រើការត្រួតពិនិត្យអុបទិកដែលមិនបំផ្លិចបំផ្លាញដើម្បីកំណត់អត្តសញ្ញាណ និងកំណត់លក្ខណៈពិការភាពនៅក្នុងស្រទាប់ខាងក្រោម gallium nitride (GaN) ដែលគាំទ្រការវាយតម្លៃគុណភាពសម្ភារៈ និងការអភិវឌ្ឍន៍ដំណើរការ។ ឆបគ្នាជាមួយស្រទាប់ខាងក្រោម 2-, 4-, និង 6-inch GaN ប្រព័ន្ធរកឃើញបញ្ហាជាច្រើន រួមទាំងការផ្លាស់ទីលំនៅរបស់ខ្សែស្រឡាយ កំហុសក្នុងការជង់ ដែនបញ្ច្រាស ព្រំដែនគ្រាប់ធញ្ញជាតិ រណ្តៅ V ការចាត់ទុកជាមោឃៈ និងស្នាមប្រេះ ដែលជួយអ្នកប្រើប្រាស់យល់ពីប្រភេទពិការភាព និងការចែកចាយរបស់ពួកគេនៅទូទាំងស្រទាប់ខាងក្រោម។
សាកសួរ

លក្ខណៈពិសេស

01

មិនបំផ្លិចបំផ្លាញ

02

ឈុតរកឃើញដែលអាចប្ដូរតាមបំណងបាន។

03

សហការ R&D

លក្ខណៈបច្ចេកទេស

សម្ភារៈ ស្រទាប់ខាងក្រោម GaN ឯករាជ្យ Si-Doped
ទំហំ Wafer 1 × 1 សង់ទីម៉ែត្រ, 2', 4' និង 6'
ឆ្លងកាត់ការត្រួតពិនិត្យ 12 WPH @ 2'
ប្រភេទនៃពិការភាព ការដាច់ខ្សែរ កំហុសជង់ ដែនបញ្ច្រាស ព្រំដែនគ្រាប់ធញ្ញជាតិ រណ្តៅ V មោឃៈ ស្នាមប្រេះ និងពិការភាពផ្សេងទៀត
តាមរយៈការផ្តល់ដំណោះស្រាយប្រកបដោយភាពច្នៃប្រឌិត ដែលអាចទុកចិត្តបាន និងអាចធ្វើមាត្រដ្ឋានបាន យើងផ្តល់សិទ្ធិអំណាចដល់ឧស្សាហកម្មនានា ដើម្បីសម្រេចបាននូវភាពជាក់លាក់ និងប្រសិទ្ធភាពដែលមិនអាចប្រៀបផ្ទឹមបាន ដែលជំរុញឱ្យមានវឌ្ឍនភាពក្នុងការស្រាវជ្រាវ និងការផលិតនៅទូទាំងពិភពលោក។
រក្សាសិទ្ធិ © 2025 Time Tech Spectra ។ រក្សាសិទ្ធិគ្រប់យ៉ាង..| ផែនទីគេហទំព័រ | គោលការណ៍ឯកជនភាព