DISPEC-9000 Sistem Inspeksi Cacat Dislokasi Substrat SiC Non-destruktif Otomatis
Rumah » Produk » Seri Inspeksi Optik Semikonduktor » DISPEC-9000 Sistem Pemeriksaan Cacat Dislokasi Substrat SiC Otomatis Non-destruktif

Produk

Pilih Seri Produk Pilih Seri Produk
  • Seri Penyerapan Sementara
    • TA AUTO/MINI - TAS ultracepat

        Tidak ada klasifikasi

    • LFP100 - Fotolisis Flash

        Tidak ada klasifikasi

    • UPSI100 - Pencitraan Shadowgraph Pompa-Probe

        Tidak ada klasifikasi

    • THZ100 - Terahertz

        Tidak ada klasifikasi

  • Seri Spektroskopi Fluoresensi
    • TPL300 - Fluoresensi Keadaan Mantap/Sementara

        Tidak ada klasifikasi

    • Sistem Karakterisasi Komprehensif Semikonduktor Celah Pita Lebar

        Tidak ada klasifikasi

    • UF100 - Fluoresensi Sangat Cepat

        Tidak ada klasifikasi

    • FLIM300 - Mikroskop Pencitraan Seumur Hidup Fluoresensi Confocal

        Tidak ada klasifikasi

  • Seri Optik Non-Linear
    • ZTS100 - Z-Pindai

        Tidak ada klasifikasi

    • SHG100 - Generasi Harmonik Kedua

        Tidak ada klasifikasi

  • Seri Kamera CMOS Berkecepatan Tinggi
    • Kamera CMOS Berkecepatan Tinggi

        Tidak ada klasifikasi

  • Seri Laser
    • FlatTop DPSS ND:YAG Nanodetik Laser

        Tidak ada klasifikasi

    • Laser YAG-OPO DPSS FlatTop-OPO

        Tidak ada klasifikasi

    • Seri Inspeksi Optik Semikonduktor
      • Wafer Substrat SiC DISPEC-9000

          Tidak ada klasifikasi

      • DISPEC-8000 SiC Substrat/Benih/Boule

          Tidak ada klasifikasi

      • Pencitraan Seumur Hidup Pembawa Epi SiCM-9000 SiC

          Tidak ada klasifikasi

      • Analisis Kinerja Sel Surya Perovskit SP-1030

          Tidak ada klasifikasi

    • Osilator/Penguat Parametrik Optik

        Tidak ada klasifikasi

    • Laser Pewarna Berdenyut Nanodetik yang Dapat Dirubah

        Tidak ada klasifikasi

  • Toko
    • Bagian & Komponen

        Tidak ada klasifikasi

Silakan pilih

    Silakan pilih klasifikasi unggul

Silakan pilih

    Silakan pilih klasifikasi unggul

Silakan pilih

    Silakan pilih klasifikasi unggul

Silakan pilih

    Silakan pilih klasifikasi unggul

Seri Penyerapan Sementara

Seri Penyerapan Sementara Seri Spektroskopi Fluoresensi Seri Optik Non-Linear Seri Kamera Berkecepatan Tinggi Seri Laser Seri Inspeksi Optik Semikonduktor

DISPEC‑9000, berdasarkan prinsip Refleksi Pump‑Probe yang canggih, memungkinkan pemeriksaan optik non-destruktif yang cepat pada substrat SiC 6‑, 8‑, dan 12‑inci. Ini secara akurat mengidentifikasi tiga jenis dislokasi kritis (TSD, TED, BPD) sekaligus mendeteksi SF, MP, inklusi karbon, dan cacat polikristalin. Sistem ini mendukung pemeriksaan dua sisi pada permukaan Si dan C. Throughput pemeriksaannya sangat efisien: 4–5 wafer per jam untuk 6‑inci, 2–3 wafer per jam untuk 8‑inci, dan sekitar 1 jam per wafer untuk 12‑inci (pemuatan manual).


Dengan memberikan solusi yang inovatif, andal, dan terukur, kami memberdayakan industri untuk mencapai presisi dan efisiensi yang tak tertandingi, sehingga mendorong kemajuan dalam penelitian dan manufaktur di seluruh dunia.

Kategori Produk

Tautan Cepat

Info Kontak
Telp: +1(888)-510-0926
Tetap Berhubungan
Tetap Berhubungan
Hak Cipta © 2025 Time Tech Spectra. Semua Hak Dilindungi Undang-undang.｜ Peta Situs | Kebijakan Privasi