DISPEC-8000 menggunakan prinsip refleksi pompa-probe untuk melakukan inspeksi optik non-destruktif pada bahan semikonduktor majemuk. Sistem ini cocok untuk memeriksa ingot SiC tipe N, kristal benih, dan wafer, serta mendukung analisis wafer dengan berbagai ukuran. Ini dapat secara akurat mengidentifikasi cacat dislokasi utama seperti TSD, TED, dan BPD, sekaligus mendukung deteksi berbagai jenis cacat, termasuk SF, MP, inklusi karbon, dan cacat epitaksi. Selain itu, ia mendukung analisis permukaan ganda pada permukaan Si dan C. Dibandingkan dengan sistem otomatis, DISPEC-8000 beroperasi dalam mode manual, menawarkan fleksibilitas yang lebih besar dan membuatnya cocok untuk validasi R&D, pengujian dalam jumlah kecil, dan beragam skenario aplikasi.
Pilih Seri Produk
Pilih Seri Produk
- Seri Penyerapan Sementara
- TA AUTO/MINI - TAS ultracepat
Tidak ada klasifikasi
- TA-LITE-Sistem Spektroskopi Penyerapan Transien Ultracepat
Tidak ada klasifikasi
- FP100 - Fotolisis Flash
Tidak ada klasifikasi
- UPSI100 - Pencitraan Shadowgraph Pompa-Probe
Tidak ada klasifikasi
- THZ100 - Terahertz
Tidak ada klasifikasi
- TA AUTO/MINI - TAS ultracepat
- Seri Spektroskopi Fluoresensi
- TPL300 - Fluoresensi Keadaan Mantap/Sementara
Tidak ada klasifikasi
- Sistem Karakterisasi Komprehensif Semikonduktor Celah Pita Lebar
Tidak ada klasifikasi
- UF100 - Fluoresensi Sangat Cepat
Tidak ada klasifikasi
- FLIM300 - Mikroskop Pencitraan Seumur Hidup Fluoresensi Confocal
Tidak ada klasifikasi
- TPL300 - Fluoresensi Keadaan Mantap/Sementara
- Seri Optik Non-Linear
- ZTS100 - Z-Pindai
Tidak ada klasifikasi
- SHG100 - Generasi Harmonik Kedua
Tidak ada klasifikasi
- ZTS100 - Z-Pindai
- Seri Kamera CMOS Berkecepatan Tinggi
- Kamera CMOS Berkecepatan Tinggi
Tidak ada klasifikasi
- Kamera CMOS Berkecepatan Tinggi
- Seri Laser
- FlatTop DPSS ND:YAG Nanodetik Laser
Tidak ada klasifikasi
- Laser YAG-OPO DPSS FlatTop-OPO
Tidak ada klasifikasi
- FlatTop DPSS ND:YAG Nanodetik Laser
- Seri Inspeksi Optik Semikonduktor
- DISPEC-8000 Sistem Pemeriksaan Cacat Dislokasi 3-in-1 SiC Ingot/Benih/Substrat Non-destruktif
Tidak ada klasifikasi
- Sistem Pencitraan Seumur Hidup Pembawa Minoritas TAU-9000
Tidak ada klasifikasi
- Analisis Kinerja Sel Surya Perovskit SP-1030
Tidak ada klasifikasi
- Sistem Deteksi Resolusi Super SR-9000 untuk Wafer dan Perangkat SiC EPI
Tidak ada klasifikasi
- Sistem Pemeriksaan Cacat Substrat GaN
Tidak ada klasifikasi
- Sistem Inspeksi Cacat Inline Terintegrasi untuk Fotovoltaik Perovskit
Tidak ada klasifikasi
- Sistem Inspeksi Cacat Offline Terintegrasi untuk Fotovoltaik Perovskit
Tidak ada klasifikasi
- SIC
- DISPEC-9000 Sistem Inspeksi Cacat Dislokasi Substrat SiC Non-destruktif Otomatis
Tidak ada klasifikasi
- DISPEC-9000 Sistem Inspeksi Cacat Dislokasi Substrat SiC Non-destruktif Otomatis
- Sistem Pemeriksaan Cacat Substrat SL-9000 InP / GaAs
Tidak ada klasifikasi
- SN-9000 Β-Ga₂O₃ Sistem Pemeriksaan Cacat Substrat & Epitaksi
Tidak ada klasifikasi
- Spektrometer Serapan Otomatis Y300 untuk Wafer SiC Semi-Insulasi
Tidak ada klasifikasi
- DISPEC-8000 Sistem Pemeriksaan Cacat Dislokasi 3-in-1 SiC Ingot/Benih/Substrat Non-destruktif
- Toko
- Bagian & Komponen
- Osilator/Penguat Parametrik Optik
Tidak ada klasifikasi
- Laser Pewarna Berdenyut Nanodetik yang Dapat Dirubah
Tidak ada klasifikasi
- Osilator/Penguat Parametrik Optik
- Bagian & Komponen
Silakan pilih
Silakan pilih klasifikasi unggul
Silakan pilih
Silakan pilih klasifikasi unggul
Silakan pilih
Silakan pilih klasifikasi unggul
Silakan pilih
Silakan pilih klasifikasi unggul
