TA-PRO
≤10⁻⁶ DO
(com câmera de 100 kHz)
90 pontos/10 s
calibração automática, troca automática
Recursos do produto
ESPECIFICAÇÕES
| Tipo de laser | Ti: Lasers de safira | Lasers baseados em Yb | |
| Faixa espectral | 280 - 380 nm (opcional) | 400 - 600 nm* | |
| 330 - 650 nm | 500 - 950 nm | ||
| 430 - 800 nm | 1100 - 1600 nm | ||
| 850 - 1500 nm | - | ||
| Modo | Transmissão/reflexão | ||
| Janela de tempo | 8 ns | ||
| Sensibilidade | ≤ 10⁻⁶ OD (com câmera de alta velocidade de 100 kHz) | ||
| IRF | ≤ 1,5 × largura de pulso | ||
| Detector | Vis: 8 kHz (padrão) | ||
| NIR: 8kHz | |||
| Sistema de automação | Comutação e calibração automática de caminho óptico | ||
| Porta-amostras | Solução, filme e pó | ||
| Compatibilidade | Criostato, célula de bigorna de diamante, campo magnético e muito mais | ||
| Programas | Aquisição, análise e ajuste de dados | ||
Conteúdo expansível
| TCSPC | Resolução de tempo ≤100 ps | ||
| Módulo FL ultrarrápido | Resolução de tempo ≤1,5 × largura de pulso | ||
| Módulo de microscopia | Imagem microscópica de TA | ||
| Módulo TA de nanossegundos | Nanossegundo TA | ||
Faixa de Sonda
Coleta de dados em alta velocidade: 10 s (90 pontos de atraso)
Sensibilidade: 10⁻⁶ OD usando câmera de alta velocidade de 100 kHz (opcional)
Teste de Baixa Excitação - Coleta de dados sob intensidade de excitação ultrabaixa
| Amostra | Perovskita | Comprimento de onda da sonda | 500-950 nm |
| Comprimento de onda de excitação | 405nm | Energia de excitação | ~ 0,24 nJ (diâmetro = l mm) |
Dados de amostra
Exemplo DUV - semicondutores de banda larga
| Amostra | ZnO | Nº de varreduras | 3 |
| Comprimento de onda de excitação | 257,5nm | Nº de pontos | 150 |
Exemplo UV-Vis - Transporte de carga em materiais fotovoltaicos
| Amostra | Filme perovskita | Nº de varreduras | 5 |
| Comprimento de onda de excitação | 405nm | Nº de pontos | 150 |
Exemplo Vis - Transferência de carga entre camadas de materiais 2D
| Amostra | MoS₂ em massa | Nº de varreduras | 3 |
| Comprimento de onda de excitação | 515nm | Pontos de dados | 150 |
Exemplo NIR - semicondutor de bandgap estreito e absorção de estado excitado
| Amostra | Grafite multicamadas | Nº de varreduras | 1 |
| Comprimento de onda de excitação | 495nm | Pontos de dados | 150 |
Vida útil de fluorescência ultrarrápida TA-FL
Princípio
Princípio da conversão ascendente de FL
Princípio de Kerr Gate
Especificações *
Conversão ascendente de FL
| Faixa de comprimento de onda de detecção FL | 360 - 950 nm |
| Janela de tempo | 8 ns |
| IRF | ≤ 1,4 vezes a largura do pulso |
| Modo de detecção | Varredura cinética de comprimento de onda único |
| Varredura espectral de banda larga | |
| Detecção 3D dinâmica |
Portão Kerr
| Faixa espectral | 355 nm - 1100 nm |
| Gama de bombas | 315 - 2600 nm |
| Resolução de tempo | ≤ 1 p.s. |
| Janela de tempo | 8 ns |
| Resolução espectral | 0,4nm |
| Modo de aquisição | Transmissão / Reflexão |
Dados de amostra
FL Upconversion — Pesquisa sobre FL ultrarrápido em moléculas de corante
| Amostra | RhB | Nº de varreduras | 3 |
| Comprimento de onda de excitação | 515nm: 10mW | Faixa de fluorescência | 530 nm - 750 nm |
Kerr Gate — Cinética FL ultrarrápida de pterostilbeno
| Amostra | Pterostilbeno | Nº de varreduras | 3 |
| Comprimento de onda de excitação | 345 nm: 2 megawatts | Acumule pontos | 150 |
| Faixa de fluorescência | 355 nm - 460 nm | Período de exposição | 6s |
Imagem microscópica ultrarrápida TA-MICRO
Especificações
Módulo de imagem cinética microscópica
| Modo | Aquisição de microespectroscopia / imagem TA de campo amplo / imagem de migração de portadora |
| Resolução espacial | <500nm |
| Faixa de comprimento de onda da câmera | 400 - 800 nm |
| 900 - 1700 nm (NIR) | |
| Precisão da migração de operadora | <50nm |
| Objetivo | 10×, 40×, 50×, 100× |
Dados de amostra
Microscópio TA
Teste de transmissão de microárea
| Amostra | WS₂ |
| Comprimento de onda de excitação | 515nm |
| Comprimento de onda da sonda | 500-850nm |
Teste de reflexão de microárea
| Amostra | Monocamada WS₂ (substrato: Si) |
| Comprimento de onda de excitação | 515nm |
| Comprimento de onda da sonda | Visível |
Imagem TA de microzona: distribuição espacial de sinais TA em amostras micro/nano
Imagem TA de campo amplo
| Amostra | WS₂ |
| Comprimento de onda de excitação | 515nm |
| Comprimento de onda da sonda | 610nm |
Imagem infravermelha próxima
| Amostra | WS₂ |
| Comprimento de onda de excitação | 515nm |
| Comprimento de onda da sonda | 900 nm |
Diagrama de dados de difusão de portadora
| Amostra | F₁₆CuPc |
| Comprimento de onda de excitação | 650nm |
| Comprimento de onda da sonda | 510nm |
Absorção transitória de nanossegundos TA-NANO
Especificações
Principal
| Modo | Modo de transmissão/reflexão comutável |
| Faixa de comprimento de onda | 360 - 1700 nm |
| Janela de tempo | ≤ 400 μs |
| Resolução do tempo de detecção | 8 ns (bombeado eletricamente), 1 ns (bombeado opticamente) |
| Sensibilidade | ≤ 0,2 MOD |
| Módulo de referência | Sistema adicional de aquisição de dados e detecção espectral |
| Elimina o ruído de oscilação da luz branca da sonda | |
| Alto SNR e eficiência de aquisição |
Laser de luz branca supercontínua de nanossegundos
| Faixa espectral | 350 - 1800 nm |
| Largura de pulso/taxa de repetição | ~ 800 ps, 2 KHz |
| Estabilidade de energia | ± 1% |
| Potência óptica média total | > 5 mW |
Módulo de extensão de bomba elétrica
| Tensão máxima | 0 - 7 V (50Ω) |
| Largura de pulso | 10ns - 990ms |
| Taxa de repetição | 1 Hz - 1 MHz |
| Tempo de subida do pulso elétrico de 0 a 5 V | ≤ 390 μs |
Dados de amostra
Teste TA em nanossegundos
| Exemplo de UV-Vis | ||
| Amostra | SiC | |
| Comprimento de onda de excitação | 343nm | |
| Comprimento de onda da sonda | 400 - 1000 nm | |
Exemplo NIR
| Amostra | PbS |
| Comprimento de onda de excitação | 343nm |
| Comprimento de onda da sonda | 1100 - 1700 nm |
PUBLICAÇÃO
Qian Li, Lingchen Kong, Le Mei, Shanchao Ouyang, Yiwen Ji, Baobing Fan, Huanhuan Gao, [...], Francis R. Lin e Alex K.-Y. Jen
Jiale Liu, Xiayan Chen, Kaizhong Chen, Wenming Tian, Yusong Sheng, Bin She, Youyu Jiang, Deyi Zhang, Yang Liu, [...] e Hongwei Han
Xiaofan Wei, Zihan Wang, Ziyu Wang, Yue Lu, Qingqing Ji*, Weimin Liu*
Jinyu Yang, Leyi Zhao, Zixuan Song, Jiamin Xiao, Lingyao Li, Guangjun Zhang, Wenxin Wang
Chiyu Guo, Chenghao Bi, Shibo Wei, Ke Ren, Xuexuan Huang, Liang Tao, Xingyu Wang, Nora H. de Leeuw, Wenxin Wang
Xukun Feng, Jiayu Tan, Xueqin Cao, Panpan Shao, Tao Han, Yue Wu, De Lu, Yixuan Zhou, Xiaobo Li, Yuanyuan Huang, Xinlong Xu
Liqiang Zhang, Yiliu Wang, Anshi Chu, Zhengwei Zhang, Miaomiao Liu, Xiaohua Shen, Bailing Li, Xu Li, Chen Yi, Rong Song, Yingying Liu, Xiujuan Zhuang, Xidong Duan
Junhan Xie, Wei Zhou, Haozheng Li, Ziyu Wang, Jiaming Jiang, Yile Zhang, Xiaoqin Shen, Zhijun Ning, Weimin Liu
Wei Zhang, Jie Kong, Rui Zhi An, Jiachen Zhang, Yujie Zhou, Lin-Song Cui, Meng Zhou
Geping Qu, Siyuan Cai, Ying Qiao, Deng Wang, Xihan Chen, Alex K.-Y Jen, ZongXiang Xu
Yuling Huang, Congcong Chen, Shaokuan Gong, Qiushi Hu, Jingjing Liu, Hongyu Chen, Lingling Mao, Xihan Chen
Qi Zou, Xuanying Chen, Yu Zhou, Xin Jin, Zhiyun Zhang, Jin Qiu, Rui Wang, Wenjing Hong, Jianhua Su, Da-Hui Qu, He Tian
Wei Zhang, Shuai Li, Yujie Gong, Jiachen Zhang, Yujie Zhou, Jie Kong, Hongbing Fu, Meng Zhou
Zhi-Bin Fang, Ting-Ting Liu, Junxue Liu, Shengye Jin, Xin-Ping Wu, Xue-Qing Gong, Kecheng Wang, Qi Yin, Tian-Fu Liu, Rong Cao, Hong-Cai Zhou
Yalan Zhang, Peijun Wang, Ming-Chun Tang, Dounya Barrit, Weijun Ke, Junxue Liu, Tao Luo, Yucheng Liu, Tianqi Niu, Detlef-M Smilgies, Zhou Yang, Zhike Liu, Shengye Jin, Mercouri G. Kanatzidis, Aram Amassian, Shengzhong Frank Liu, Kui Zhao
Xiao Luo, Runchen Lai, Yulu Li, Yaoyao Han, Guijie Liang, Xue Liu, Tao Ding, Junhui Wang, Kaifeng Wu
Hongzhi Zhou, Yida Zhao, Weijian Tao, Yujie Li, Qiaohui Zhou, Haiming Zhu
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