Sistema Z-Scan

O ZTS100 mede absorção/refração não linear por meio de varredura no eixo z. Possui detecção de abertura fechada/aberta com design de canal duplo anti-jitter para determinação precisa do coeficiente não linear.

Compensação anti-jitter de canal duplo

Resolução de 0,1μm

Janela de detecção ampla (350-1700nm)

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Recursos do produto

Estágio de precisão: resolução de 0,1 μm, repetibilidade <2 μm.

Detecção ampla: 350-1700nm (50nW-20mW).

Anti-jitter: Compensação de referência de canal duplo.

Alinhamento automático: elimina o ajuste óptico manual do estágio Z

Troca automática: troca automática controlada por software entre abertura aberta e fechada

ESPECIFICAÇÕES

Estágio de atraso óptico de precisão

Velocidade	30mm/s
Resolução mínima	0,1 μm
Precisão de reposicionamento	< 2 μm

Detector

Comprimento de onda da sonda	350-1700 nm
Faixa de potência	50nW - 20mW
Anti-jitter	Aquisição simultânea de sinais de referência de canal duplo
Seção do módulo de alinhamento automático	Faixa:≥+5°
		Sensibilidade: 0,7urad
		Comprimento de onda: 400 - 1100nm
Software (baseado em LabView)	Ajuste automatizado de curva (transmitância vs. posição Z)
		Cálculos de absorção de dois fótons (TPA)
		Processamento e armazenamento de dados

APLICATIVO

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Compensação anti-jitter de canal duplo

Resolução de 0,1μm

Janela de detecção ampla (350-1700nm)

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