SL-9000 ialah sistem pemeriksaan kecacatan optik tidak merosakkan untuk substrat semikonduktor kompaun. Direka terutamanya untuk substrat indium phosphide (InP), ia juga boleh disesuaikan untuk memeriksa substrat galium arsenide (GaAs). Imej dan peta sistem kehelan benang dan kecacatan kekisi lain dalam kedua-dua substrat konduktif dan separa penebat, menyediakan data untuk penilaian kualiti substrat dan pengoptimuman proses.
SL-9000 menampilkan sistem analisis AI dan boleh memasukkan maklumat tentang kecacatan permukaan, termasuk calar, zarah dan pencemaran, ke dalam penilaian kualiti substrat. Keupayaan pemeriksaannya yang cekap dan tidak merosakkan menyokong pembangunan, pembuatan dan kawalan kualiti substrat semikonduktor kompaun.
SL-9000 menampilkan sistem analisis AI dan boleh memasukkan maklumat tentang kecacatan permukaan, termasuk calar, zarah dan pencemaran, ke dalam penilaian kualiti substrat. Keupayaan pemeriksaannya yang cekap dan tidak merosakkan menyokong pembangunan, pembuatan dan kawalan kualiti substrat semikonduktor kompaun.
Tanya