O SL-9000 é um sistema de inspeção de defeitos ópticos não destrutivo para substratos semicondutores compostos. Projetado principalmente para substratos de fosfeto de índio (InP), também pode ser adaptado para inspecionar substratos de arsenieto de gálio (GaAs). O sistema cria imagens e mapeia deslocamentos de rosqueamento e outros defeitos de rede em substratos condutores e semi-isolantes, fornecendo dados para avaliação da qualidade do substrato e otimização de processos.
O SL-9000 possui um sistema de análise de IA e pode incorporar informações sobre defeitos superficiais, incluindo arranhões, partículas e contaminação, em avaliações de qualidade do substrato. Seus recursos de inspeção eficientes e não destrutivos apoiam o desenvolvimento, a fabricação e o controle de qualidade de substratos semicondutores compostos.
O SL-9000 possui um sistema de análise de IA e pode incorporar informações sobre defeitos superficiais, incluindo arranhões, partículas e contaminação, em avaliações de qualidade do substrato. Seus recursos de inspeção eficientes e não destrutivos apoiam o desenvolvimento, a fabricação e o controle de qualidade de substratos semicondutores compostos.
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