SL-9000 là hệ thống kiểm tra khuyết tật quang học không phá hủy dành cho chất nền bán dẫn hỗn hợp. Được thiết kế chủ yếu cho chất nền indium phosphide (InP), nó cũng có thể được điều chỉnh để kiểm tra chất nền gallium arsenide (GaAs). Các hình ảnh và bản đồ của hệ thống về các sai lệch trong luồng và các khuyết tật mạng khác ở cả chất nền dẫn điện và bán cách điện, cung cấp dữ liệu để đánh giá chất lượng chất nền và tối ưu hóa quy trình.
SL-9000 có hệ thống phân tích AI và có thể kết hợp thông tin về các khuyết tật bề mặt, bao gồm vết trầy xước, hạt và tạp chất, để đánh giá chất lượng bề mặt. Khả năng kiểm tra không phá hủy, hiệu quả của nó hỗ trợ việc phát triển, sản xuất và kiểm soát chất lượng các chất nền bán dẫn hỗn hợp.
SL-9000 có hệ thống phân tích AI và có thể kết hợp thông tin về các khuyết tật bề mặt, bao gồm vết trầy xước, hạt và tạp chất, để đánh giá chất lượng bề mặt. Khả năng kiểm tra không phá hủy, hiệu quả của nó hỗ trợ việc phát triển, sản xuất và kiểm soát chất lượng các chất nền bán dẫn hỗn hợp.
hỏi thăm