SL-9000 คือระบบตรวจสอบข้อบกพร่องทางแสงแบบไม่ทำลายสำหรับซับสเตรตเซมิคอนดักเตอร์แบบผสม ออกแบบมาสำหรับซับสเตรตอินเดียมฟอสไฟด์ (InP) เป็นหลัก และยังสามารถปรับเพื่อตรวจสอบซับสเตรตแกลเลียมอาร์เซไนด์ (GaAs) ได้อีกด้วย ภาพระบบและแมปการเคลื่อนตัวของเกลียวและข้อบกพร่องโครงตาข่ายอื่นๆ ในซับสเตรตทั้งที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้าและกึ่งฉนวน โดยให้ข้อมูลสำหรับการประเมินคุณภาพของซับสเตรตและการปรับกระบวนการให้เหมาะสม
SL-9000 มีระบบการวิเคราะห์ AI และสามารถรวมข้อมูลเกี่ยวกับข้อบกพร่องที่พื้นผิว รวมถึงรอยขีดข่วน อนุภาค และการปนเปื้อน ในการประเมินคุณภาพพื้นผิว ความสามารถในการตรวจสอบที่มีประสิทธิภาพและไม่ทำลายสนับสนุนการพัฒนา การผลิต และการควบคุมคุณภาพของซับสเตรตเซมิคอนดักเตอร์แบบผสม
SL-9000 มีระบบการวิเคราะห์ AI และสามารถรวมข้อมูลเกี่ยวกับข้อบกพร่องที่พื้นผิว รวมถึงรอยขีดข่วน อนุภาค และการปนเปื้อน ในการประเมินคุณภาพพื้นผิว ความสามารถในการตรวจสอบที่มีประสิทธิภาพและไม่ทำลายสนับสนุนการพัฒนา การผลิต และการควบคุมคุณภาพของซับสเตรตเซมิคอนดักเตอร์แบบผสม
สอบถาม