SL-9000 adalah sistem pemeriksaan cacat optik non-destruktif untuk substrat semikonduktor majemuk. Dirancang terutama untuk substrat indium fosfida (InP), ia juga dapat disesuaikan untuk memeriksa substrat galium arsenida (GaAs). Sistem ini menggambarkan dan memetakan dislokasi threading dan cacat kisi lainnya pada media konduktif dan semi-isolasi, menyediakan data untuk penilaian kualitas media dan optimalisasi proses.
SL-9000 dilengkapi sistem analisis AI dan dapat memasukkan informasi tentang cacat permukaan, termasuk goresan, partikel, dan kontaminasi, ke dalam penilaian kualitas media. Kemampuan inspeksi non-destruktifnya yang efisien mendukung pengembangan, produksi, dan pengendalian kualitas substrat semikonduktor majemuk.
SL-9000 dilengkapi sistem analisis AI dan dapat memasukkan informasi tentang cacat permukaan, termasuk goresan, partikel, dan kontaminasi, ke dalam penilaian kualitas media. Kemampuan inspeksi non-destruktifnya yang efisien mendukung pengembangan, produksi, dan pengendalian kualitas substrat semikonduktor majemuk.
Menanyakan