ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម SL-9000 InP / GaAs

SL-9000 គឺជាប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពអុបទិកដែលមិនមានការបំផ្លិចបំផ្លាញសម្រាប់ស្រទាប់ខាងក្រោម semiconductor ។ ត្រូវបានរចនាឡើងជាចម្បងសម្រាប់ស្រទាប់ខាងក្រោម indium phosphide (InP) វាក៏អាចត្រូវបានកែសម្រួលដើម្បីពិនិត្យមើលស្រទាប់ខាងក្រោម gallium arsenide (GaAs) ផងដែរ។ រូបភាពប្រព័ន្ធ និងផែនទីការផ្លាស់ទីលំនៅរបស់ខ្សែស្រឡាយ និងពិការភាពនៃបន្ទះឈើផ្សេងទៀតទាំងនៅក្នុងស្រទាប់ខាងក្រោម conductive និង semi-insulating ដែលផ្តល់ទិន្នន័យសម្រាប់ការវាយតម្លៃគុណភាពស្រទាប់ខាងក្រោម និងការបង្កើនប្រសិទ្ធភាពដំណើរការ។

SL-9000 បំពាក់នូវប្រព័ន្ធវិភាគ AI ហើយអាចបញ្ចូលព័ត៌មានអំពីពិការភាពលើផ្ទៃ រួមទាំងការកោស ភាគល្អិត និងការចម្លងរោគ ចូលទៅក្នុងការវាយតម្លៃគុណភាពស្រទាប់ខាងក្រោម។ សមត្ថភាពត្រួតពិនិត្យប្រកបដោយប្រសិទ្ធភាព និងគ្មានការបំផ្លិចបំផ្លាញរបស់វាគាំទ្រដល់ការអភិវឌ្ឍន៍ ការផលិត និងការត្រួតពិនិត្យគុណភាពនៃស្រទាប់ខាងក្រោម semiconductor ។