ភាពជាក់លាក់
| មេ | ||
| ជួរ Spectral | 480-950 nm (អាចពង្រីកដល់ 380 nm) | |
| របៀប | ការបញ្ជូន / ការឆ្លុះេនៅតែមិនទាន់យល់បានគ្រប់គ្រាន់។ ការងារនេះបង្ហាញពីវិធីសាស្ត្រត្រួតពិនិត្យយ៉ាងរហ័ស ដោយមិនមានការបំផ្លិចបំផ្លាញ ដោយផ្អែកលើការស្រូបទាញបណ្តោះអាសន្ន និងក្បួនដោះស្រាយ AI សម្រាប់ការរកឃើញ និងការចាត់ថ្នាក់ត្រឹមត្រូវ។ ការសិក្សាបង្ហាញពីរបៀបលូតលាស់ខុសៗគ្នានៃការផ្លាស់ទីលំនៅរបស់ខ្សែស្រឡាយ និងកំណត់ទំនាក់ទំនងការផ្លាស់ប្តូររវាងការផ្លាស់ទីលំនៅ និងពិការភាពនៃយន្តហោះមូលដ្ឋាន។ ការរកឃើញទាំងនេះផ្តល់នូវការយល់ដឹងថ្មីអំពីការលូតលាស់គ្រីស្តាល់ SiC និងគាំទ្រការធ្វើឱ្យប្រសើរឡើងនូវការគ្រប់គ្រងពិការភាព និងគុណភាព wafer នៅក្នុងការផលិត semiconductor ។ | |
| បង្អួចពេលវេលា | ៤ ន | |
| ភាពរសើប | ≤0.1 mOD | |
| IRF | ≤1.5X ទទឹងជីពចរ | |
| ការការពារគំរូ | ដំណោះស្រាយ, ខ្សែភាពយន្ត, puder | |
| កម្មវិធី | ការទទួលបានទិន្នន័យ ការវិភាគ និងការសម | |
| Fs-ឡាស៊ែរ | ||
| អត្រាពាក្យដដែលៗ | 100 kHz | |
| ទទឹងជីពចរ | 350 fs | |
| ថាមពលជីពចរតែមួយ | 50 μj | |



