DISPEC-9000 ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម SiC ដែលមិនបំផ្លិចបំផ្លាញ
ផ្ទះ » ផលិតផល » ស៊េរីអធិការកិច្ចអុបទិក Semiconductor » DISPEC-9000 ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម SiC ដែលមិនបំផ្លិចបំផ្លាញ

ផលិតផល

ជ្រើសរើសស៊េរីផលិតផល ជ្រើសរើសស៊េរីផលិតផល
  • ស៊េរីស្រូបយកបណ្តោះអាសន្ន
    • TA AUTO/MINI - TAS លឿនបំផុត។

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • LFP100 - ការថតរូបពន្លឺ

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • UPSI100 - ការថតរូបភាពស្រមោលរបស់ Pump-Probe

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • THZ100 - Terahertz

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

  • ស៊េរី វិសាលគម ហ្វ្លុយអូរ៉ែនសេន
    • TPL300 - ភាពស្ថិតស្ថេរ/ហ្វ្លុយអូរីសបណ្តោះអាសន្ន

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • Wide Bandgap Semiconductor Comprehensive Characterization System

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • UF100 - ហ្វ្លុយអូរីសលឿនបំផុត។

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • FLIM300 - មីក្រូទស្សន៍រូបភាព ហ្វ្លុយអូរីស ប្រសព្វពេញមួយជីវិត

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

  • ស៊េរីអុបទិកមិនមែនលីនេអ៊ែរ
    • ZTS100 - Z-ស្កេន

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • SHG100 - ជំនាន់អាម៉ូនិកទីពីរ

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

  • ស៊េរីកាមេរ៉ា CMOS ល្បឿនលឿន
    • កាមេរ៉ា CMOS ល្បឿនលឿន

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

  • ស៊េរីឡាស៊ែរ
    • FlatTop DPSS ND:YAG Nanosecond Laser

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO Laser

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • ស៊េរីអធិការកិច្ចអុបទិក Semiconductor
      • DISPEC-9000 ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពស្រទាប់ខាងក្រោម SiC ដែលមិនបំផ្លិចបំផ្លាញ

          គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

      • DISPEC-8000 ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាព SiC Ingot/Seed/Substrate 3-in-1 Non-destructive

          គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

      • ប្រព័ន្ធរូបភាពពេញមួយជីវិតរបស់ក្រុមហ៊ុនដឹកជញ្ជូនជនជាតិភាគតិច TAU-9000

          គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

      • SP-1030 Perovskite ការវិភាគការអនុវត្តកោសិកាពន្លឺព្រះអាទិត្យ

          គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

      • ប្រព័ន្ធរកឃើញគុណភាពបង្ហាញខ្ពស់ SR-9000 សម្រាប់ SiC EPI-Wafers និងឧបករណ៍

          គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • ឧបករណ៍បំពងសំឡេង/ឧបករណ៍ពង្រីកអុបទិក

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

    • ឡាស៊ែរ​ពណ៌​ដែល​អាច​ប្រើ​បាន​ណាណូ​វិនាទី

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

  • ហាង
    • ផ្នែក និងសមាសធាតុ

        គ្មានការចាត់ថ្នាក់ទេ។

សូមជ្រើសរើស

    សូមជ្រើសរើសចំណាត់ថ្នាក់កំពូល

សូមជ្រើសរើស

    សូមជ្រើសរើសចំណាត់ថ្នាក់កំពូល

សូមជ្រើសរើស

    សូមជ្រើសរើសចំណាត់ថ្នាក់កំពូល

សូមជ្រើសរើស

    សូមជ្រើសរើសចំណាត់ថ្នាក់កំពូល

ស៊េរីស្រូបយកបណ្តោះអាសន្ន

ស៊េរីស្រូបយកបណ្តោះអាសន្ន ស៊េរី វិសាលគម ហ្វ្លុយអូរ៉ែនសេន ស៊េរីអុបទិកមិនមែនលីនេអ៊ែរ ស៊េរីកាមេរ៉ាល្បឿនលឿន ស៊េរីឡាស៊ែរ ស៊េរីអធិការកិច្ចអុបទិក Semiconductor

DISPEC-9000 ដោយផ្អែកលើគោលការណ៍ Pump-Probe Reflection កម្រិតខ្ពស់ អនុញ្ញាតឱ្យមានការត្រួតពិនិត្យយ៉ាងរហ័សដោយមិនបំផ្លាញអុបទិកនៃស្រទាប់ខាងក្រោម SiC ទំហំ 6‑, 8‑ និង 12 អ៊ីញ។ វាកំណត់យ៉ាងត្រឹមត្រូវនូវប្រភេទការផ្លាស់ទីលំនៅសំខាន់ៗចំនួនបី (TSD, TED, BPD) ខណៈពេលដែលរកឃើញ SF, MP, ការរួមបញ្ចូលកាបូន និងពិការភាព polycrystalline ។ ប្រព័ន្ធនេះគាំទ្រការត្រួតពិនិត្យទ្វេភាគីទាំងមុខ Si និង C ។ ការត្រួតពិនិត្យរបស់វាមានប្រសិទ្ធភាពខ្ពស់៖ 4-5 wafers ក្នុងមួយម៉ោងសម្រាប់ 6-inch, 2-3 wafers ក្នុងមួយម៉ោងសម្រាប់ 8-inch និងប្រហែល 1 ម៉ោងក្នុងមួយ wafers សម្រាប់ 12-inch (ការផ្ទុកដោយដៃ) ។


តាមរយៈការផ្តល់ដំណោះស្រាយប្រកបដោយភាពច្នៃប្រឌិត ដែលអាចទុកចិត្តបាន និងអាចធ្វើមាត្រដ្ឋានបាន យើងផ្តល់សិទ្ធិអំណាចដល់ឧស្សាហកម្មនានា ដើម្បីសម្រេចបាននូវភាពជាក់លាក់ និងប្រសិទ្ធភាពដែលមិនអាចប្រៀបផ្ទឹមបាន ដែលជំរុញឱ្យមានវឌ្ឍនភាពក្នុងការស្រាវជ្រាវ និងការផលិតនៅទូទាំងពិភពលោក។

ប្រភេទផលិតផល

តំណភ្ជាប់រហ័ស

ព័ត៌មានទំនាក់ទំនង
ទូរស័ព្ទ៖ +1(888)-510-0926
អ៊ីមែល៖  sales@timetechna.com
រក្សាទំនាក់ទំនង
រក្សាទំនាក់ទំនង
រក្សាសិទ្ធិ © 2025 Time Tech Spectra ។ រក្សាសិទ្ធិគ្រប់យ៉ាង..｜ ផែនទីគេហទំព័រ | គោលការណ៍ឯកជនភាព