Zスキャンシステム
非線形光学シリーズ

Z-スキャンシステム

ZTS100 は、Z 軸スキャンを通じて非線形吸収/屈折を測定します。非線形係数を正確に決定するための、ジッター防止デュアルチャネル設計によるクローズド/オープンアパーチャ検出を備えています。

デュアルチャンネルアンチジッター補償
0.1μmの分解能
広い検出ウィンドウ (350-1700nm)
Z扫描

製品の特徴

精密ステージ: 分解能 0.1μm、再現性 <2 μm。
広範囲の検出: 350-1700nm (50nW-20mW)。
アンチジッター: デュアルチャンネル基準補償。

自動アライメント: 手動による Z ステージ光学調整が不要

自動切り替え: ソフトウェア制御による絞りの開閉自動切り替え

仕様

高精度光遅延段

スピード30mm/秒
最小解像度0.1μm
再位置決め精度< 2μm

検出器

応用

出版物

ダウンロード

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