超高速過渡吸収分光システム
フラッシュ光分解システム

当社の製品

研究関連
過渡吸収から蛍光および非線形分光法まで、TTS は研究を強化する高度にカスタマイズ可能な最先端のモジュール式製品を提供します。

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半導体材料検査
世界初のSiCウェーハ、ブール、種結晶用の光学式非破壊転位検査装置や大面積ペロブスカイト検査装置など。 TTS は、半導体メーカーの検査ワークフローを再定義し、精度と効率の新たな基準を確立します。

最新ニュースとアップデート

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TAS シリーズ - 半導体ナノ結晶および量子ドット システムにおけるアプリケーション

過渡吸収分光法は、分子システムの研究への応用に加えて、半導体ナノ結晶や量子ドットの励起状態ダイナミクスを探索するための重要な技術的手法です。この議論では、半導体量子ドットを例として使用して説明します。

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TAS シリーズ - 分子システムへの応用

前回の記事では、過渡吸収分光法検出の基本プロセスと詳細な原理を徹底的に検討しました。この記事では、超高速過渡吸収分光法の分子システムへの応用をさらに検討し、超高速過渡吸収分光法の両方に焦点を当てます。

革新的で信頼性が高く、スケーラブルなソリューションを提供することで、業界が比類のない精度と効率を達成できるようにし、世界中の研究と製造の進歩を推進します。

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