蛍光分光シリーズ
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  • 過渡吸収シリーズ
    • TA100 - 超高速 TAS

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    • LFP100 - フラッシュ光分解

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    • UPSI100 - ポンププローブシャドウグラフイメージング

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    • THZ100 - テラヘルツ

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  • 蛍光分光シリーズ
    • TPL300 - 定常状態/過渡蛍光

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    • 深紫外 (DUV) 蛍光システム

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    • UF100 - 超高速蛍光

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    • FLIM300 - 共焦点蛍光寿命イメージング顕微鏡

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  • 非線形光学シリーズ
    • ZTS100 - Zスキャン

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    • SHG100 - 第二高調波発生

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  • 高速CMOSカメラシリーズ
    • 高速CMOSカメラ

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  • レーザーシリーズ
    • フラットトップ DPSS ND:YAG ナノ秒レーザー

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    • FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO レーザー

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    • 半導体光学検査シリーズ
      • DISPEC-9000 SiC基板ウエハ

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      • DISPEC-8000 SiC基板/シード/ブール

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      • SiCM-9000 SiC エピキャリア寿命イメージング

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      • SP-1030 ペロブスカイト太陽電池の性能解析

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      • マイクロLEDウェーハレベルの総合試験・解析システム

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過渡吸収シリーズ
このシリーズは、定常状態システムと時間分解システムの両方を含む、蛍光分光法のための完全なソリューションを提供します。科学および産業環境における光物理学研究、量子収量分析、材料検査向けに設計されています。
革新的で信頼性が高く、スケーラブルなソリューションを提供することで、業界が比類のない精度と効率を達成できるようにし、世界中の研究と製造の進歩を推進します。

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