Hogar Productos Serie de espectroscopia de fluorescencia Sistema integral de espectroscopía SOLARIUM-L para materiales/dispositivos de perovskita

Sistema integral de espectroscopía para materiales/dispositivos de perovskita

SOLARIUM-L

Imágenes multifuncionales que incluyen intensidad PL/EL de alta precisión, espectroscopia de emisión, PL, PLQE, QFLS y cuasi-JV de resolución temporal.

Imágenes de fotocorriente/fotovoltaje de alta resolución.

Escaneo láser/muestra opcional.

Compatibilidad con módulos de alta tensión y baja temperatura.

Software de control integrado tanto para la adquisición como para el análisis de datos.

Muestras compatibles: Células solares en tándem de silicio/perovskita/silicio-perovskita y película delgada.

Consulta

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PRESUPUESTO

Función de detección

Célula solar de unión única	True JV, Suns-PL (Pseudo-JV), Voc, Jsc, MPP, PL/TRPL
Célula solar de unión única		Intensidad/vida útil de PL, iVoc, PCE, FF, Rs, PLQE, QFica no destructivo para sustratos de β-Ga₂O₃ y obleas epitaxiales. Diseñado tanto para materiales de tipo conductor como para materiales dopados no intencionalmente (UID), combina alta precisión y eficiencia con una inspección integrada del sustrato y de la capa epitaxial para respaldar la evaluación de la calidad del material y la optimización del proceso.
Célula solar en tándem	Características verdaderas de JV de células solares en tándem, Sub-cell Suns-PL, Pseudo-JV, Voc, Jsc, MPP, PL/TRPL, EL
Célula solar en tándem		Espectroscopia PL/intensidad/imagen de vida útil, iVoc, PCE, FF, RSH, PLQE, QFLS

Configuración de fuente de luz

Longitud de onda	CONDUJO	450 nm, 532 nm, 850 nm, 900 nm (configuración estándar 450 y 850 nm)
Longitud de onda		Láser de picosegundo	405 nm, 450 nm, 532 nm, 780 nm, 808 nm, 850 nm
Rango dinámico óptico	CONDUJO	0.01 - 1.5 soles

Otros parámetros

Tamaño máximo de imagen única (campo amplio)	≤ 2x2 cm2
Resolución espectral	Monocromador de distancia focal de 0,14 nm a 300 mm,
Resolución espectral		@1200 ranuras/mm de rejilla, @25 μm de tamaño de píxel CCD
Tiempo de adquisición de espectro	5 ms (mín.)
Célula solar en tándem	Imágenes de campo amplio	a. Modo de alta resolución: 1,5 μm/píxel, área de imagen < 7 mm²
				b. Modo de resolución estándar: 8 μm/píxel, área de imagen < 80 mm²
				do. Se utiliza para imágenes de intensidad PL/EL, iVOC, PCE, FF, RS, RSH, etc.
Resolución espacial	Imágenes CLSM	a. Resolución espacial de hasta 260 nm (inmersión en aceite 100×)
				b. Objetivos: 5×, 10×, 20×, 40×, 50×, 60×, 100× inmersión en aire/aceite
				do. Utilizado para imágenes espectrales PL, PLQE, imágenes QFLS
Módulo TCSPC	FIR	≤ 230 ps
		Rango espectral	400-1100 nm (APD)
		Fuente láser	Láser de picosegundo de 375, 405 nm

Nota: 1. El tamaño, la longitud de onda y la potencia de la fuente de luz se pueden personalizar.

La fuente de luz de área LED admite la integración de tres tipos de fuentes de luz simultáneamente.

DATOS DE MUESTRA

Mapeo QFLS y PLQE de alta resolución

Mapeo QFLS de película de perovskita

Mapeo PLQY de película de perovskita

Ajuste del espectro PL

Mapeo de intensidad/vida útil de fluorescencia de alta resolución

Mapeo de fotocorriente

Mapeo de intensidad EL

Mapeo e imágenes de pseudo JV

Imágenes QFLS-Ópticas JV

Pruebas de células solares en tándem de silicio/perovskita

Imágenes de intensidad PL

La fuente de luz integrada de múltiples longitudes de onda permite obtener imágenes de intensidad PL independientes de las subcélulas.

Imagen de campo brillante

Mapeo de intensidad PL de la capa de perovskita

Longitud de onda de excitación	450 nanómetro
Condición de colección	Paso largo de 630 nm

Mapeo de intensidad PL de la capa de Si

Longitud de onda de excitación	825 nanómetro
Condición de colección	Paso largo de 850 nm

Pruebas de pseudo empresa conjunta

Permite obtener imágenes pseudo JV independientes de subcélulas de silicio y perovskita.

Imágenes QFLS de la capa de perovskita

Capa de perovskita Pseudo-JV

Ampliación local (1)

Imágenes QFLS de capa Si

Pseudo-JV de capa Si

Ampliación local (2)

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