Sistema de escaneo Z

ZTS100 mide la absorción/refracción no lineal mediante el escaneo del eje z. Presenta detección de apertura cerrada/abierta con diseño de doble canal anti-jitter para una determinación precisa del coeficiente no lineal.

Compensación anti-jitter de doble canal

Resolución de 0,1 μm

Amplia ventana de detección (350-1700 nm)

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Características del producto

Etapa de precisión: resolución de 0,1 μm, repetibilidad <2 μm.

Amplia detección: 350-1700 nm (50 nW-20 mW).

Anti-jitter: Compensación de referencia de doble canal.

Alineación automática: elimina el ajuste óptico manual de la etapa Z

Cambio automático: cambio automático controlado por software entre apertura y cierre

PRESUPUESTO

Etapa de retardo óptico de precisión

Velocidad	30 mm/s
Resolución mínima	0,1 µm
Precisión de reposicionamiento	< 2 micras

Detector

Longitud de onda de la sonda	350-1700nm
Rango de potencia	50 nW - 20 mW
Anti-jitter	Adquisición simultánea de señales de referencia de doble canal.
Sección del módulo de alineación automática	Rango: ≥+5°
		Sensibilidad: 0,7urad
		Longitud de onda: 400 - 1100 nm
Software (basado en LabView)	Ajuste de curva automatizado (transmitancia frente a posición Z)
		Cálculos de absorción de dos fotones (TPA)
		Procesamiento y almacenamiento de datos.

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Sistema de escaneo Z

Compensación anti-jitter de doble canal

Resolución de 0,1 μm

Amplia ventana de detección (350-1700 nm)

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