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- UPSI100 - Imagen de gráfico de sombras con sonda de bomba
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- Sistema integral de caracterización de semiconductores de banda ancha
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- UF100 - Fluorescencia ultrarrápida
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- FLIM300: microscopía de imágenes de por vida de fluorescencia confocal
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- TPL300 - Fluorescencia transitoria/de estado estacionario
- Serie óptica no lineal
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- SHG100 - Segunda Generación Armónica
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- Serie de cámaras CMOS de alta velocidad
- Cámara CMOS de alta velocidad
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- Serie láser
- Láser de nanosegundos FlatTop DPSS ND:YAG
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- Láser FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO
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- Serie de inspección óptica de semiconductores
- Obleas de sustrato de SiC DISPEC-9000
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- DISPEC-8000 Sustrato/Semilla/Bola de SiC
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- Imágenes de vida útil del portador SiC Epi SiCM-9000
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- Análisis del rendimiento de las células solares de perovskita SP-1030
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- Obleas de sustrato de SiC DISPEC-9000
- Oscilador/amplificador paramétrico óptico
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- Láser de colorante pulsado de nanosegundos sintonizable
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- Láser de nanosegundos FlatTop DPSS ND:YAG
- Almacenar
- Piezas y componentes
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