SERIE ÓPTICA NO LINEAL

Sistema SHG-100

El sistema de prueba de imágenes/espectroscopia de segunda generación armónica (SHG) TTS utiliza un láser de femtosegundo de fibra de 1030 nm como fuente de excitación. Al integrar un módulo de microscopio vertical con una etapa de escaneo sincronizada de alta velocidad, permite obtener imágenes rápidas de intensidad SHG.

Imágenes de intensidad rápida
Resolución alta
Software automatizado
非线性SHG

Características del producto

Mapeo de intensidad de SHG dependiente de la polarización (gráficos polares)
El software gira la placa de media onda para cambiar la polarización automáticamente y mide la intensidad de SHG en función de la polarización del láser de entrada.
Imágenes de intensidad SHG de alta velocidad y alta resolución (mapeo SHG)
Utilizando una etapa sincronizada de alta velocidad, un detector de alta sensibilidad y una tarjeta de adquisición de alta velocidad, el sistema alcanza velocidades de escaneo superiores a 700 puntos/s.
Medición de la intensidad de SHG versus el poder de excitación.
El ajuste de la potencia del láser controlado por software permite una adquisición rápida de espectros SHG bajo diferentes potencias de excitación.


PRESUPUESTO

Principal

Fuente de luz de excitaciónLáser de femtosegundo de 1030 nm (también compatible con láser de picosegundo)
Ampliación objetiva50x (otros aumentos disponibles bajo petición)
Resolución espacial<2 μm (objetivo 50x)
‌Escenario motorizado de alta velocidad‌Tamaño de paso mínimo: 50 nm
Repetibilidad de posicionamiento‌: 250 nm
Salida sincronizada Velocidad máxima de escaneo: 300 mm/s
Función de softwareAdquisición y procesamiento de datos.
Selección de ROI Movimiento del campo de visión
Control de polarización Control de velocidad de escaneo
CompatibilidadSoporta etapa de baja temperatura.
Fluorescencia confocal y vida útil (incluida electroluminiscencia), módulos Raman

Láser de femtosegundo

DATOS DE MUESTRA

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