Sistem Pemeriksaan Kecacatan Luar Talian Bersepadu untuk Perovskite Photovoltaics direka untuk penyelidikan bahan, penilaian prestasi peranti dan analisis kegagalan. Mengintegrasikan photoluminescence (PL), electroluminescence (EL), dan pemeriksaan optik automatik (AOI) terang dan medan gelap, sistem luar talian menampung sel tandem perovskit dan perovskite/silikon pelbagai saiz dan membolehkan pemeriksaan berbilang skala, daripada pengimejan kawasan besar kepada pemerhatian kecacatan mikroskopik setempat. Keupayaan pilihan termasuk pengimejan resolusi tinggi, spektroskopi PL, photoluminescence (TRPL) diselesaikan masa dan pemetaan photocurrent/photovoltage. Digabungkan dengan hasil kuantum PL (PLQY), pemisahan tahap kuasi-Fermi (QFLS), dan pengimejan pseudo-J-V, keupayaan ini mencirikan taburan spatial sifat optoelektronik dalam bahan dan peranti. Pengenalpastian kecacatan berbantukan AI, klasifikasi, analisis statistik dan penilaian keseragaman membantu mengaitkan ciri kecacatan dengan variasi prestasi, memberikan cerapan percubaan untuk penyaringan bahan, pengoptimuman proses dan peningkatan dalam kecekapan dan kestabilan.
Tanya
