Sistem Inspeksi Cacat Offline Terintegrasi untuk Fotovoltaik Perovskit

Sistem Inspeksi Cacat Offline Terintegrasi untuk Fotovoltaik Perovskit dirancang untuk penelitian material, evaluasi kinerja perangkat, dan analisis kegagalan. Mengintegrasikan photoluminescence (PL), electroluminescence (EL), dan inspeksi optik otomatis (AOI) bidang terang dan gelap, sistem offline mengakomodasi sel tandem perovskit dan perovskit/silikon dengan berbagai ukuran dan memungkinkan inspeksi multiskala, mulai dari pencitraan area luas hingga pengamatan cacat mikroskopis lokal. Kemampuan opsionalnya mencakup pencitraan resolusi tinggi, spektroskopi PL, fotoluminesensi terpecahkan waktu (TRPL), dan pemetaan arus foto/tegangan foto. Dikombinasikan dengan hasil kuantum PL (PLQY), pemisahan level kuasi-Fermi (QFLS), dan pencitraan pseudo-J–V, kemampuan ini mencirikan distribusi spasial sifat optoelektronik dalam material dan perangkat. Identifikasi, klasifikasi, analisis statistik, dan penilaian keseragaman cacat yang dibantu AI membantu mengkorelasikan karakteristik cacat dengan variasi kinerja, memberikan wawasan eksperimental untuk penyaringan bahan, optimalisasi proses, dan peningkatan efisiensi dan stabilitas.

Menanyakan

Fitur

Inspeksi PL, EL & AOI

Berbagai Ukuran Sampel & Kompatibilitas Sel Tandem

Pencitraan Resolusi Tinggi: ~5 μm

Spesifikasi

Pencitraan PL, EL dan AOI
Bidang Pandang	35cm × 35cm
Resolusi Spasial	Sekitar 50 μm/piksel
Sumber Eksitasi PL	Sumber cahaya area LED 532 nm (panjang gelombang lainnya opsional); Sumber cahaya area LED 850 nm untuk sel surya tandem
Keseragaman Iluminasi	>90%
Rentang Intensitas Penerangan	0,01–1,2 matahari
Waktu Akuisisi Gambar	Biasanya <1 detik, bergantung pada intensitas sinyal PL dan EL sampel
Pencitraan Resolusi Tinggi
Bidang Pandang	2,5 cm × 2,5 cm
Resolusi Spasial	Sekitar 5 μm/piksel (resolusi lebih tinggi tersedia berdasarkan permintaan)
Spektroskopi PL
Sumber Eksitasi	Laser 532 nm (sumber tambahan 850 nm tersedia untuk sel surya tandem)
Rentang Akuisisi Spektral	350–1000 nm (spektrometer inframerah dekat khusus tersedia untuk sel surya tandem)
Resolusi Spektral	Resolusi panjang gelombang: 0,25 nm; resolusi optik: 1,8 nm
Kemampuan Tambahan
Karakterisasi Listrik	Memindai pencitraan arus foto dan tegangan foto
Analisis AI	Identifikasi cacat berbasis AI
Pencitraan Tingkat Lanjut	Pencitraan hasil kuantum photoluminescence (PLQY), pemisahan level quasi-Fermi (QFLS), dan karakteristik pseudo-J – V

Contoh

① Pemeriksaan Pencitraan Rutin

Panel fotovoltaik 30 cm × 30 cm dengan komposisi perovskit konvensional.

② Modul Pengukuran Terintegrasi

Sistem ini dapat mengintegrasikan pencitraan resolusi tinggi, spektroskopi, dan pemindaian modul fotovoltase/arus foto.

Kemampuan Pencitraan dan Spektroskopi

Pengukuran resolusi tinggi in situ: pengukuran AOI, PL, dan EL pada resolusi spasial yang lebih tinggi. Bidang pandang dan resolusi spasial dapat disesuaikan untuk mengkarakterisasi cacat dan garis juru tulis, dan untuk memeriksa sampel kecil.
Modul arus foto/tegangan foto: mengukur arus hubung singkat dan tegangan rangkaian terbuka di berbagai wilayah sampel untuk mengidentifikasi variasi lokal dalam respons listrik.
Fotoluminesensi yang diselesaikan dengan waktu (TRPL): mengukur masa pakai pembawa dalam bahan perovskit untuk mengungkap rekombinasi pembawa dan dinamika ekstraksi muatan.
Spektroskopi: mengukur spektrum PL dan EL di lokasi sampel yang berbeda untuk mengungkap distribusi spasial dan variasi komposisi perovskit; pencitraan pemindaian spektral juga didukung.

③ Identifikasi Cacat Otomatis Berbasis AI

④ Identifikasi Cacat Otomatis dan Pelacakan Proses

⑤ Pencitraan QFLS dan Pseudo JV

⑥ Karakterisasi Sel Tandem Perovskit-Silikon

Dengan mengubah panjang gelombang eksitasi dan pita spektral deteksi, lapisan perovskit dan silikon sel surya tandem dapat diselidiki dan dievaluasi secara independen, sehingga dapat mengungkap kinerja setiap lapisan fungsional.