El sistema integrado de inspección de defectos fuera de línea para energía fotovoltaica de perovskita está diseñado para la investigación de materiales, la evaluación del rendimiento de dispositivos y el análisis de fallas. Al integrar fotoluminiscencia (PL), electroluminiscencia (EL) e inspección óptica automatizada (AOI) de campo brillante y oscuro, el sistema fuera de línea admite celdas en tándem de perovskita y perovskita/silicio de varios tamaños y permite la inspección multiescala, desde imágenes de áreas grandes hasta observación de defectos microscópicos localizados. Las capacidades opcionales incluyen imágenes de alta resolución, espectroscopia PL, fotoluminiscencia resuelta en el tiempo (TRPL) y mapeo de fotocorriente/fotovoltaje. Combinadas con el rendimiento cuántico PL (PLQY), la división de nivel cuasi-Fermi (QFLS) y las imágenes pseudo-J-V, estas capacidades caracterizan la distribución espacial de las propiedades optoelectrónicas en materiales y dispositivos. La identificación de defectos, la clasificación, el análisis estadístico y la evaluación de la uniformidad asistidos por IA ayudan a correlacionar las características de los defectos con las variaciones de rendimiento, proporcionando información experimental para la detección de materiales, la optimización de procesos y mejoras en la eficiencia y la estabilidad.
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