ប្រព័ន្ធត្រួតពិនិត្យពិការភាពក្រៅបណ្តាញរួមបញ្ចូលគ្នាសម្រាប់ Perovskite Photovoltaics ត្រូវបានរចនាឡើងសម្រាប់ការស្រាវជ្រាវសម្ភារៈ ការវាយតម្លៃប្រតិបត្តិការឧបករណ៍ និងការវិភាគការបរាជ័យ។ ការរួមបញ្ចូល photoluminescence (PL), electroluminescence (EL) និងការត្រួតពិនិត្យស្វ័យប្រវត្តិកម្មអុបទិកវាលភ្លឺ និងងងឹត (AOI) ប្រព័ន្ធក្រៅបណ្តាញអាចផ្ទុកកោសិកា perovskite និង perovskite/silicon tandem នៃទំហំផ្សេងៗ និងអនុញ្ញាតឱ្យមានការត្រួតពិនិត្យពហុមាត្រដ្ឋាន ចាប់ពីរូបភាពផ្ទៃធំ ដល់ការសង្កេតមីក្រូទស្សន៍ដែលបានធ្វើមូលដ្ឋានីយកម្ម។ សមត្ថភាពជាជម្រើសរួមមានការថតរូបភាពកម្រិតច្បាស់ខ្ពស់ PL spectroscopy, photoluminescence ដែលបានដោះស្រាយពេលវេលា (TRPL) និងការគូសផែនទី photocurrent/photovoltage។ រួមបញ្ចូលគ្នាជាមួយនឹងទិន្នផល PL quantum (PLQY) ការបំបែកកម្រិត quasi-Fermi (QFLS) និងការថតរូបភាព pseudo-J-V សមត្ថភាពទាំងនេះកំណត់លក្ខណៈនៃការចែកចាយលំហនៃលក្ខណៈសម្បត្តិ optoelectronic នៅក្នុងសម្ភារៈ និងឧបករណ៍។ ការកំណត់អត្តសញ្ញាណពិការភាព ការធ្វើចំណាត់ថ្នាក់ ការវិភាគស្ថិតិ និងការវាយតម្លៃឯកសណ្ឋានដែលជំនួយដោយ AI ជួយទំនាក់ទំនងលក្ខណៈពិការភាពជាមួយនឹងការប្រែប្រួលនៃការអនុវត្ត ដោយផ្តល់នូវការយល់ដឹងពីការពិសោធសម្រាប់ការពិនិត្យសម្ភារៈ ការបង្កើនប្រសិទ្ធភាពដំណើរការ និងការកែលម្អប្រសិទ្ធភាព និងស្ថេរភាព។
សាកសួរ
