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페로브스카이트 태양광발전을 위한 통합 오프라인 결함 검사 시스템
페로브스카이트 태양광발전을 위한 통합 오프라인 결함 검사 시스템
페로브스카이트 태양전지용 통합 오프라인 결함 검사 시스템은 재료 연구, 장치 성능 평가 및 고장 분석을 위해 설계되었습니다. 광발광(PL), 전계발광(EL), 명 시야 및 암시야 자동 광학 검사(AOI)를 통합한 오프라인 시스템은 다양한 크기의 페로브스카이트 및 페로브스카이트/실리콘 직렬 셀을 수용하고 대면적 이미징부터 국부적인 미세 결함 관찰에 이르기까지 다중 규모 검사를 가능하게 합니다. 옵션 기능에는 고해상도 이미징, PL 분광학, TRPL(시간 분해 광발광) 및 광전류/광전압 매핑이 포함됩니다. PLQY(PL 양자 수율), QFLS(준 페르미 준위 분할) 및 의사 J-V 이미징과 결합된 이러한 기능은 재료 및 장치에서 광전자 특성의 공간 분포를 특성화합니다. AI 지원 결함 식별, 분류, 통계 분석 및 균일성 평가는 결함 특성과 성능 변화의 상관관계를 파악하여 재료 스크리닝, 프로세스 최적화, 효율성 및 안정성 개선을 위한 실험적 통찰력을 제공합니다.
묻다

특징

01

PL, EL, AOI 검사

02

다양한 샘플 크기 및 직렬 셀 호환성

03

고해상도 이미징: ~5μm

명세서

PL, EL 및 AOI 이미징
시야 35cm×35cm
공간 해상도 약 50μm/픽셀
PL 여기 소스 532 nm LED 영역 광원(다른 파장 선택 가능); 직렬형 태양전지용 850nm LED 면광원
조명 균일성 >90%
조명 강도 범위 0.01–1.2 태양
이미지 획득 시간 일반적으로 샘플의 PL 및 EL 신호 강도에 따라 <1초
고해상도 이미징
시야 2.5cm×2.5cm
공간 해상도 약 5μm/픽셀(요청 시 더 높은 해상도 제공 가능)
PL 분광학
여기 소스 532nm 레이저(탠덤 태양전지에는 추가 850nm 소스 사용 가능)
스펙트럼 획득 범위 350~1000nm(직렬형 태양전지에는 맞춤형 근적외선 분광계 사용 가능)
스펙트럼 분해능 파장 분해능: 0.25nm; 광학 분해능: 1.8nm
추가 기능
전기적 특성 광전류 및 광전압 이미징 스캔
AI 분석 AI 기반 결함 식별
고급 이미징 광발광 양자 수율(PLQY), 준 페르미 준위 분할(QFLS) 및 의사 J-V 특성 이미징

예

① 정기영상검사

정기 영상 검사

기존의 페로브스카이트 구성을 갖춘 30cm × 30cm 광전지 패널.

② 통합 측정 모듈

통합 측정 모듈
통합 측정 모듈

이 시스템은 고해상도 이미징, 분광학 및 스캐닝 광전압/광전류 모듈을 통합할 수 있습니다.

이미징 및 분광학 기능

  • 현장 고해상도 측정: 더 높은 공간 분해능에서 AOI, PL 및 EL 측정. 시야와 공간 해상도를 맞춤화하여 결함을 특성화하고 선을 표시하고 작은 샘플을 검사할 수 있습니다.

  • 광전류/광전압 모듈: 다양한 샘플 영역에서 단락 전류 및 개방 회로 전압을 측정하여 전기 반응의 국지적 변화를 식별합니다.

  • 시간 분해 광발광(TRPL): 페로브스카이트 재료의 캐리어 수명을 측정하여 캐리어 재결합 및 전하 추출 역학을 나타냅니다.

  • 분광학: 다양한 샘플 위치에서 PL 및 EL 스펙트럼을 측정하여 페로브스카이트 구성의 공간 분포와 변화를 나타냅니다. 스펙트럼 스캐닝 이미징도 지원됩니다.

③ AI 기반 자동 결함 식별

AI 기반 자동 결함 식별
AI 기반 결함 분류 결과

④ 자동화된 결함 식별 및 프로세스 추적

자동화된 결함 식별 및 프로세스 추적

⑤ QFLS와 Pseudo JV Imaging

QFLS 이미징
유사 JV 이미징
QFLS 및 의사 JV 분석

⑥ 페로브스카이트-실리콘 탠덤 셀 특성화

페로브스카이트-실리콘 직렬 셀 특성화

여기 파장과 검출 스펙트럼 대역을 변경함으로써 직렬 태양 전지의 페로브스카이트 및 실리콘 층을 독립적으로 조사하고 평가하여 각 기능 층의 성능을 밝힐 수 있습니다.

혁신적이고 안정적이며 확장 가능한 솔루션을 제공함으로써 업계가 비교할 수 없는 정밀도와 효율성을 달성할 수 있도록 지원하고 전 세계적으로 연구 및 제조 분야의 발전을 주도합니다.
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