
페로브스카이트 태양전지용 통합 오프라인 결함 검사 시스템은 재료 연구, 장치 성능 평가 및 고장 분석을 위해 설계되었습니다. 광발광(PL), 전계발광(EL), 명 시야 및 암시야 자동 광학 검사(AOI)를 통합한 오프라인 시스템은 다양한 크기의 페로브스카이트 및 페로브스카이트/실리콘 직렬 셀을 수용하고 대면적 이미징부터 국부적인 미세 결함 관찰에 이르기까지 다중 규모 검사를 가능하게 합니다. 옵션 기능에는 고해상도 이미징, PL 분광학, TRPL(시간 분해 광발광) 및 광전류/광전압 매핑이 포함됩니다. PLQY(PL 양자 수율), QFLS(준 페르미 준위 분할) 및 의사 J-V 이미징과 결합된 이러한 기능은 재료 및 장치에서 광전자 특성의 공간 분포를 특성화합니다. AI 지원 결함 식별, 분류, 통계 분석 및 균일성 평가는 결함 특성과 성능 변화의 상관관계를 파악하여 재료 스크리닝, 프로세스 최적화, 효율성 및 안정성 개선을 위한 실험적 통찰력을 제공합니다.
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