สินค้า-แบนเนอร์
ระบบตรวจสอบข้อบกพร่องแบบออฟไลน์แบบบูรณาการสำหรับไฟฟ้าโซลาร์เซลล์เพอรอฟสกี้
ระบบตรวจสอบข้อบกพร่องแบบออฟไลน์แบบบูรณาการสำหรับไฟฟ้าโซลาร์เซลล์เพอรอฟสกี้
ระบบตรวจสอบข้อบกพร่องแบบออฟไลน์แบบบูรณาการสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์ Perovskite ได้รับการออกแบบมาเพื่อการวิจัยวัสดุ การประเมินประสิทธิภาพของอุปกรณ์ และการวิเคราะห์ความล้มเหลว ด้วยการบูรณาการโฟโตลูมิเนสเซนซ์ (PL), อิเล็กโตรลูมิเนสเซนซ์ (EL) และการตรวจสอบด้วยแสงอัตโนมัติ (AOI) ในสนามที่สว่างและมืด ระบบออฟไลน์รองรับเซลล์เพอร์รอฟสไกต์และเพอร์รอฟสไกต์/ซิลิคอนแทนเดมในขนาดต่างๆ และช่วยให้สามารถตรวจสอบได้หลายสเกล ตั้งแต่การถ่ายภาพในพื้นที่ขนาดใหญ่ไปจนถึงการสังเกตข้อบกพร่องด้วยกล้องจุลทรรศน์เฉพาะที่ ความสามารถเสริม ได้แก่ การสร้างภาพความละเอียดสูง, PL สเปกโทรสโกปี, โฟโตลูมิเนสเซนซ์แบบแก้ไขเวลา (TRPL) และการทำแผนที่โฟโตปัจจุบัน/โฟโตโวลเตจ เมื่อรวมกับผลผลิตควอนตัม PL (PLQY) การแยกระดับเสมือนเฟอร์มิ (QFLS) และการถ่ายภาพหลอก -J – V ความสามารถเหล่านี้เป็นลักษณะการกระจายเชิงพื้นที่ของคุณสมบัติออปโตอิเล็กทรอนิกส์ในวัสดุและอุปกรณ์ การระบุข้อบกพร่อง การจำแนกประเภท การวิเคราะห์ทางสถิติ และการประเมินความสม่ำเสมอโดยใช้ความช่วยเหลือจาก AI ช่วยเชื่อมโยงคุณลักษณะของข้อบกพร่องกับการเปลี่ยนแปลงด้านประสิทธิภาพ โดยให้ข้อมูลเชิงลึกเชิงทดลองสำหรับการคัดกรองวัสดุ การเพิ่มประสิทธิภาพกระบวนการ และการปรับปรุงประสิทธิภาพและความเสถียร
สอบถาม

คุณสมบัติ

01

การตรวจสอบ PL, EL และ AOI

02

ขนาดตัวอย่างหลายขนาดและความเข้ากันได้ของเซลล์แบบ Tandem

03

การถ่ายภาพความละเอียดสูง: ~5 μm

ข้อมูลจำเพาะ

การถ่ายภาพ PL, EL และ AOI
สาขาการมองเห็น 35 ซม. × 35 ซม
ความละเอียดเชิงพื้นที่ ประมาณ 50 µm/พิกเซล
แหล่งกระตุ้น PL แหล่งกำเนิดแสง LED พื้นที่ 532 นาโนเมตร (ความยาวคลื่นอื่น ๆ ก็ได้); แหล่งกำเนิดแสง LED พื้นที่ 850 นาโนเมตรสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์แบบเรียงกัน
ความสม่ำเสมอของการส่องสว่าง >90%
ช่วงความเข้มของการส่องสว่าง 0.01–1.2 อาทิตย์
เวลาในการรับภาพ โดยทั่วไป <1 วินาที ขึ้นอยู่กับความเข้มของสัญญาณ PL และ EL ของตัวอย่าง
การถ่ายภาพความละเอียดสูง
สาขาการมองเห็น 2.5 ซม. × 2.5 ซม
ความละเอียดเชิงพื้นที่ ประมาณ 5 μm/พิกเซล (สามารถขอความละเอียดสูงกว่าได้)
PL สเปกโทรสโกปี
แหล่งกระตุ้น เลเซอร์ 532 นาโนเมตร (มีแหล่งกำเนิดเพิ่มเติม 850 นาโนเมตรสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์แบบเรียงกัน)
ช่วงการได้มาของสเปกตรัม 350–1,000 นาโนเมตร (มีสเปกโตรมิเตอร์ใกล้อินฟราเรดแบบกำหนดเองสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์แบบเรียงกัน)
ความละเอียดสเปกตรัม ความละเอียดความยาวคลื่น: 0.25 นาโนเมตร; ความละเอียดแสง: 1.8 นาโนเมตร
ความสามารถเพิ่มเติม
การระบุลักษณะทางไฟฟ้า การสแกนภาพโฟโตปัจจุบันและโฟโตโวลเตจ
การวิเคราะห์เอไอ การระบุข้อบกพร่องโดยใช้ AI
การถ่ายภาพขั้นสูง การถ่ายภาพผลผลิตควอนตัมโฟโตลูมิเนสเซนซ์ (PLQY), การแยกระดับกึ่งเฟอร์มิ (QFLS) และคุณลักษณะหลอก-J – V

ตัวอย่าง

1 การตรวจสอบด้วยภาพตามปกติ

การตรวจสอบภาพตามปกติ

แผงเซลล์แสงอาทิตย์ขนาด 30 ซม. × 30 ซม. ที่มีองค์ประกอบเพอร์รอฟสไกต์แบบธรรมดา

2 โมดูลการวัดแบบรวม

โมดูลการวัดแบบรวม
โมดูลการวัดแบบรวม

ระบบสามารถรวมการสร้างภาพความละเอียดสูง สเปกโทรสโกปี และโมดูลสแกนโฟโตโวลเตจ/โฟโตปัจจุบันได้

ความสามารถในการถ่ายภาพและสเปกโทรสโกปี

  • การวัดความละเอียดสูงในแหล่งกำเนิด: การวัด AOI, PL และ EL ที่ความละเอียดเชิงพื้นที่ที่สูงขึ้น ขอบเขตการมองเห็นและความละเอียดเชิงพื้นที่สามารถปรับแต่งได้เพื่อระบุลักษณะข้อบกพร่องและเส้นขีดเขียน และเพื่อตรวจสอบตัวอย่างขนาดเล็ก

  • โมดูลโฟโตปัจจุบัน/โฟโตโวลเตจ: วัดกระแสลัดวงจรและแรงดันไฟฟ้าวงจรเปิดในภูมิภาคตัวอย่างต่างๆ เพื่อระบุความแปรผันเฉพาะในการตอบสนองทางไฟฟ้า

  • โฟโตลูมิเนสเซนซ์แบบแก้ไขเวลา (TRPL): วัดอายุการใช้งานของพาหะในวัสดุเพอร์รอฟสไกต์ เพื่อเปิดเผยการรวมตัวกันใหม่ของพาหะและไดนามิกของการสกัดประจุ

  • สเปกโทรสโกปี: วัดสเปกตรัม PL และ EL ที่ตำแหน่งตัวอย่างต่างๆ เพื่อเปิดเผยการกระจายเชิงพื้นที่และความแปรผันขององค์ประกอบของเพอร์รอฟสไกต์ นอกจากนี้ยังรองรับการสแกนสเปกตรัมด้วย

3 การระบุข้อบกพร่องอัตโนมัติโดยใช้ AI

การระบุข้อบกพร่องอัตโนมัติโดยใช้ AI
ผลการจำแนกข้อบกพร่องตาม AI

④ การระบุข้อบกพร่องอัตโนมัติและการติดตามกระบวนการ

การระบุข้อบกพร่องอัตโนมัติและการติดตามกระบวนการ

⑤ QFLS และ Pseudo JV Imaging

การสร้างภาพ QFLS
หลอก JV Imaging
การวิเคราะห์ QFLS และ Pseudo JV

⑥ ลักษณะเฉพาะของเซลล์ Perovskite-Silicon Tandem

ลักษณะเฉพาะของเซลล์ Perovskite-Silicon Tandem

ด้วยการเปลี่ยนความยาวคลื่นกระตุ้นและแถบสเปกตรัมการตรวจจับ ชั้นเพอร์รอฟสไกต์และซิลิคอนของเซลล์แสงอาทิตย์แบบเรียงกันสามารถตรวจสอบและประเมินผลได้อย่างอิสระ ซึ่งเผยให้เห็นประสิทธิภาพของแต่ละชั้นการทำงาน

ด้วยการนำเสนอโซลูชันที่เป็นนวัตกรรม เชื่อถือได้ และปรับขนาดได้ เราช่วยให้อุตสาหกรรมต่างๆ บรรลุความแม่นยำและประสิทธิภาพที่ไม่มีใครเทียบได้ ขับเคลื่อนความก้าวหน้าในการวิจัยและการผลิตทั่วโลก
ลิขสิทธิ์ © 2025 ไทม์ เทค สเปกตรัม สงวนลิขสิทธิ์.| แผนผังเว็บไซต์ | นโยบายความเป็นส่วนตัว