O Sistema Integrado de Inspeção de Defeitos Offline para Perovskita Fotovoltaica foi projetado para pesquisa de materiais, avaliação de desempenho de dispositivos e análise de falhas. Integrando fotoluminescência (PL), eletroluminescência (EL) e inspeção óptica automatizada (AOI) de campo claro e escuro, o sistema off-line acomoda células tandem de perovskita e perovskita/silício de vários tamanhos e permite inspeção em várias escalas, desde imagens de grandes áreas até observação de defeitos microscópicos localizados. Os recursos opcionais incluem imagens de alta resolução, espectroscopia PL, fotoluminescência resolvida no tempo (TRPL) e mapeamento de fotocorrente/fototensão. Combinados com rendimento quântico PL (PLQY), divisão de nível quase-Fermi (QFLS) e imagem pseudo-J – V, esses recursos caracterizam a distribuição espacial de propriedades optoeletrônicas em materiais e dispositivos. A identificação, classificação, análise estatística e avaliação de uniformidade de defeitos assistida por IA ajudam a correlacionar características de defeitos com variações de desempenho, fornecendo insights experimentais para triagem de materiais, otimização de processos e melhorias na eficiência e estabilidade.
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