Siri Pemeriksaan Optik Semikonduktor untuk SiC & Perovskite

Siasatan

Kategori Produk

DISPEC-8000 SiC Ingot/Biji/Substrat 3-dalam-1 Sistem Pemeriksaan Kecacatan Dislokasi
- DISPEC-8000 SiC Ingot/Biji/Substrat 3-dalam-1 Sistem Pemeriksaan Kecacatan Dislokasi
Lagi >>»
Sistem Pengimejan Sepanjang Hayat Pembawa Minoriti TAU-9000
- TAU-9000/9000HR Alat Pengimejan Seumur Hidup Pembawa Wafer Epitaxial Beresolusi Tinggi
Lagi >>»
Analisis Prestasi Sel Suria Perovskite SP-1030
Lagi >>»
Sistem Pengesanan Super-Resolution SR-9000 untuk SiC EPI-Wafers dan Peranti
- SR-9000 Alat Pemeriksaan Kecacatan Epi-lapisan Optik Optik SiC tidak merosakkan
Lagi >>»
Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat GaN
- Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat GaN
Lagi >>»
Sistem Pemeriksaan Kecacatan Sebaris Bersepadu untuk Perovskite Photovoltaics
- Sistem Pemeriksaan Kecacatan Sebaris Bersepadu untuk Perovskite Photovoltaics
Lagi >>»
Sistem Pemeriksaan Kecacatan Luar Talian Bersepadu untuk Perovskite Photovoltaics
- Sistem Pemeriksaan Kecacatan Luar Talian Bersepadu untuk Perovskite Photovoltaics
Lagi >>»
SIC
- DISPEC-9000 Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat SiC Tanpa Musnah Automatik
Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat SL-9000 InP / GaAs
- Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat SL-9000 InP / GaAs
Lagi >>»
SN-9000 Β-Ga₂O₃ Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat & Epitaksi
- SN-9000 β-Ga₂O₃ Sistem Pemeriksaan Kecacatan Substrat & Epitaksi
Lagi >>»
Spektrometer Penyerapan Automatik Y300 untuk Wafer SiC Separa Penebat
- Spektrometer Penyerapan Automatik Y300 untuk Wafer SiC Separa Penebat
Lagi >>»

Dengan menyampaikan penyelesaian yang inovatif, boleh dipercayai dan berskala, kami memperkasakan industri untuk mencapai ketepatan dan kecekapan yang tiada tandingan, memacu kemajuan dalam penyelidikan dan pembuatan di seluruh dunia.

Kategori Produk

Pautan Pantas

Maklumat Hubungan

Tel: +1(888)-510-0926

e-mel: sales@timetechna.com

Kerjaya

Sentiasa Berhubung