비선형 광학 시리즈
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  • 과도 흡수 시리즈
    • TA100 - 초고속 TAS

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    • LFP100 - 플래시 광분해

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    • UPSI100 - 펌프-프로브 그림자 그래프 이미징

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    • THZ100 - 테라헤르츠

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  • 형광 분광학 시리즈
    • TPL300 - 정상 상태/일과성 형광

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    • 심자외선(DUV) 형광 시스템

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    • UF100 - 초고속 형광

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    • FLIM300 - 공초점 형광 평생 이미징 현미경

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  • 비선형 광학 시리즈
    • ZTS100 - Z-스캔

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    • SHG100 - 2차 고조파 생성

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  • 고속 CMOS 카메라 시리즈
    • 고속 CMOS 카메라

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  • 레이저 시리즈
    • FlatTop DPSS ND:YAG 나노초 레이저

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    • FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO 레이저

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    • 반도체 광학 검사 시리즈
      • DISPEC-9000 SiC 기판 웨이퍼

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      • DISPEC-8000 SiC 기판/시드/부울

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      • SiCM-9000 SiC Epi 캐리어 수명 이미징

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      • SP-1030 페로브스카이트 태양전지 성능 분석

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  • 가게

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과도 흡수 시리즈
이 시리즈에는 Z-스캔 및 2차 고조파 생성(SHG)과 같은 비선형 광학 분석을 위한 고급 시스템이 포함되어 있습니다. 반도체 및 기능성 소재의 광학적 비선형성을 정밀하게 특성화하도록 설계된 이 제품은 차세대 장치 개발에 중요한 광자 반응을 탐색할 수 있도록 해줍니다.
혁신적이고 안정적이며 확장 가능한 솔루션을 제공함으로써 업계가 비교할 수 없는 정밀도와 효율성을 달성할 수 있도록 지원하고 전 세계적으로 연구 및 제조 분야의 발전을 주도합니다.

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