초고속 과도 흡수 분광법 시스템
플래시 광분해 시스템

우리의 제품

연구관련
일시적 흡수부터 형광, 비선형 분광학 및 그 이상에 이르기까지 TTS는 귀하의 연구에 힘을 실어주는 고도로 맞춤화 가능한 최첨단 모듈식 제품을 제공합니다.

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반도체 재료 검사
SiC 웨이퍼, 부울, 시드 결정은 물론 대면적 페로브스카이트 검사 시스템 등을 위한 세계 최초의 광학적 비파괴 전위 검사 도구입니다. 반도체 제조업체의 검사 작업 흐름을 재정의하는 TTS는 정밀도와 효율성의 새로운 표준을 설정합니다.

최신 뉴스 및 업데이트

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TAS 시리즈 - 반도체 나노결정 및 양자점 시스템의 응용

과도 흡수 분광법은 분자 시스템 연구에 적용하는 것 외에도 반도체 나노결정 또는 양자점의 여기 상태 역학을 탐색하는 데 중요한 기술 방법입니다. 이번 논의에서는 반도체 양자점을 예로 들어 설명하겠습니다.

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TAS 시리즈 - 분자 시스템의 응용

이전 기사에서는 과도 흡수 분광법 검출의 기본 프로세스와 세부 원리를 철저히 조사했습니다. 이 기사에서는 초고속 과도 흡수 분광법을 분자 시스템에 적용하는 방법을 자세히 살펴보겠습니다.

혁신적이고 안정적이며 확장 가능한 솔루션을 제공함으로써 업계가 비교할 수 없는 정밀도와 효율성을 달성할 수 있도록 지원하고 전 세계적으로 연구 및 제조 분야의 발전을 주도합니다.

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