Hệ thống quét Z

ZTS100 đo độ hấp thụ/khúc xạ phi tuyến thông qua quá trình quét trục z. Tính năng phát hiện khẩu độ đóng/mở với thiết kế kênh đôi chống giật để xác định hệ số phi tuyến chính xác.

Bù chống jitter kênh đôi

Độ phân giải 0,1μm

Cửa sổ phát hiện rộng (350-1700nm)

hỏi thăm

Tải xuống bảng dữ liệu

Tính năng sản phẩm

Giai đoạn chính xác: độ phân giải 0,1μm, độ lặp lại <2 μm.

Phát hiện rộng: 350-1700nm (50nW-20mW).

Chống giật hình: Bù tham chiếu kênh đôi.

Tự động căn chỉnh: Loại bỏ điều chỉnh quang học giai đoạn Z thủ công

Tự động chuyển đổi: Tự động chuyển đổi được điều khiển bằng phần mềm giữa khẩu độ mở và đóng

THÔNG SỐ KỸ THUẬT

Giai đoạn trễ quang học chính xác

Tốc độ	30 mm/giây
Độ phân giải tối thiểu	0,1 mm
Định vị lại độ chính xác	< 2 mm

Máy dò

Bước sóng thăm dò	350-1700nm
Dải công suất	50nW - 20mW
Chống giật	Thu thập đồng thời các tín hiệu tham chiếu kênh đôi
Phần mô-đun tự động căn chỉnh	Phạm vi: ≥ + 5 °
		Độ nhạy: 0,7urad
		Bước sóng: 400 - 1100nm
Phần mềm (Dựa trên LabView)	Tự động điều chỉnh đường cong (Truyền qua so với vị trí Z)
		Tính toán độ hấp thụ hai photon (TPA)
		Xử lý và lưu trữ dữ liệu

Hệ thống quét Z

Bù chống jitter kênh đôi

Độ phân giải 0,1μm

Cửa sổ phát hiện rộng (350-1700nm)

Tính năng sản phẩm

THÔNG SỐ KỸ THUẬT

ỨNG DỤNG

CÔNG BỐ

TẢI XUỐNG

Danh mục sản phẩm

Liên kết nhanh