Z-Scan-System

ZTS100 misst nichtlineare Absorption/Brechung durch Z-Achsen-Scanning. Verfügt über eine Erkennung bei geschlossener/offener Apertur mit Anti-Jitter-Zweikanaldesign für eine präzise nichtlineare Koeffizientenbestimmung.

Zweikanalige Anti-Jitter-Kompensation

0,1 μm Auflösung

Breites Erkennungsfenster (350–1700 nm)

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Produktmerkmale

Präzisionstisch: 0,1 μm Auflösung, <2 μm Wiederholgenauigkeit.

Breite Erkennung: 350–1700 nm (50 nW–20 mW).

Anti-Jitter: Zweikanalige Referenzkompensation.

Automatische Ausrichtung: Macht die manuelle optische Anpassung der Z-Stufe überflüssig

Automatische Umschaltung: Softwaregesteuerte automatische Umschaltung zwischen offener und geschlossener Blende

SPEZIFIKATIONEN

Präzise optische Verzögerungsstufe

Geschwindigkeit	30 mm/s
Mindestauflösung	0,1 μm
Genauigkeit der Neupositionierung	< 2 μm

Detektor

Sondenwellenlänge	350–1700 nm
Leistungsbereich	50nW - 20mW
Anti-Jitter	Gleichzeitige Erfassung zweikanaliger Referenzsignale
Abschnitt „Auto-Alignment-Modul“.	Bereich: ≥+5°
		Empfindlichkeit: 0,7urad
		Wellenlänge: 400 - 1100 nm
Software (LabView-basiert)	Automatisierte Kurvenanpassung (Transmission vs. Z-Position)
		Berechnungen zur Zwei-Photonen-Absorption (TPA).
		Datenverarbeitung und -speicherung

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Z-Scan-System

Zweikanalige Anti-Jitter-Kompensation

0,1 μm Auflösung

Breites Erkennungsfenster (350–1700 nm)

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