Das TAU-9000-System nutzt Pump-Probe-basierte ultraschnelle transiente Spektroskopie-Bildgebung, um eine zeitlich und räumlich hochaufgelöste Charakterisierung der Lebensdauer von Wafer-Minoritätsträgern zu erreichen. Photogenerierte Ladungsträger werden durch Pumplicht angeregt und ihre Zerfallsdynamik wird durch zeitaufgelöste Bildgebung gemessen. Dies ermöglicht eine präzise Beurteilung der Auswirkungen von Versetzungen, Punktdefekten und Oberflächenverunreinigungen auf die Ladungsträgerlebensdauer und spiegelt so die Gesamtqualität des Wafers wider.
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- Transiente Absorptionsreihe
- TA AUTO/MINI – Ultraschnelles TAS
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- LFP100 – Blitzphotolyse
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- UPSI100 – Pump-Probe Shadowgraph Imaging
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- THZ100 – Terahertz
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- TA AUTO/MINI – Ultraschnelles TAS
- Reihe Fluoreszenzspektroskopie
- TPL300 – Steady-State-/Transient-Fluoreszenz
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- Umfassendes Charakterisierungssystem für Halbleiter mit großer Bandlücke
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- UF100 – Ultraschnelle Fluoreszenz
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- FLIM300 – Konfokale Fluoreszenz-Lifetime-Imaging-Mikroskopie
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- TPL300 – Steady-State-/Transient-Fluoreszenz
- Nichtlineare optische Serie
- ZTS100 – Z-Scan
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- SHG100 – Zweite Harmonische Generation
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- ZTS100 – Z-Scan
- Hochgeschwindigkeits-CMOS-Kameraserie
- Hochgeschwindigkeits-CMOS-Kamera
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- Laser-Serie
- FlatTop DPSS ND:YAG Nanosekundenlaser
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- FlatTop-OPO DPSS YAG-OPO Laser
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- Serie zur optischen Inspektion von Halbleitern
- DISSPEC-9000 SiC-Substratwafer
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- DISPEC-8000 SiC-Substrat/Samen/Boule
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- SiCM-9000 SiC Epi Carrier Lifetime Imaging
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- Leistungsanalyse von Perowskit-Solarzellen SP-1030
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- DISSPEC-9000 SiC-Substratwafer
- Optischer parametrischer Oszillator/Verstärker
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- Abstimmbarer gepulster Nanosekunden-Farbstofflaser
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- FlatTop DPSS ND:YAG Nanosekundenlaser
- Speichern
- Teile und Komponenten
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