TA-PRO
≤10⁻⁶ Außendurchmesser
(mit 100-kHz-Kamera)
90 Punkte/10 Sek
automatische Kalibrierung, automatische Umschaltung
Produktmerkmale
SPEZIFIKATIONEN
| Lasertyp | Ti:Saphir-Laser | Yb-basierte Laser | |
| Spektralbereich | 280 - 380 nm (optional) | 400 - 600 nm* | |
| 330 - 650 nm | 500 - 950 nm | ||
| 430 - 800 nm | 1100 - 1600 nm | ||
| 850 - 1500 nm | — | ||
| Modus | Übertragung / Reflexion | ||
| Zeitfenster | 8 ns | ||
| Empfindlichkeit | ≤ 10⁻⁶ OD (mit 100 kHz Hochgeschwindigkeitskamera) | ||
| IRF | ≤ 1,5 × Impulsbreite | ||
| Detektor | Vis: 8 kHz (Standard) | ||
| NIR: 8 kHz | |||
| Automatisierungssystem | Automatische Umschaltung und Kalibrierung des optischen Pfades | ||
| Probenhalter | Lösung, Film und Pulver | ||
| Kompatibilität | Kryostat, Diamantambosszelle, Magnetfeld und mehr | ||
| Software | Datenerfassung, Analyse und Anpassung | ||
Erweiterbare Inhalte
| TCSPC | Zeitauflösung ≤100 ps | ||
| Ultraschnelles FL-Modul | Zeitauflösung ≤1,5 × Impulsbreite | ||
| Mikroskopiemodul | Mikroskopische TA-Bildgebung | ||
| Nanosekunden-TA-Modul | Nanosekunden-TA | ||
Sondenreichweite
Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung: 10 s (90 Zeitverzögerungspunkte)
Empfindlichkeit: 10⁻⁶ OD bei Verwendung einer 100-kHz-Hochgeschwindigkeitskamera (optional)
Test bei geringer Anregung – Datenerfassung bei extrem geringer Anregungsintensität
| Probe | Perowskit | Sondenwellenlänge | 500–950 nm |
| Anregungswellenlänge | 405 nm | Anregungsenergie | ~ 0,24 nJ (Durchm.=l mm) |
Beispieldaten
DUV-Beispiel – Halbleiter mit großer Bandlücke
| Probe | ZnO | Anzahl der Scans | 3 |
| Anregungswellenlänge | 257,5 nm | Anzahl der Punkte | 150 |
UV-Vis-Beispiel – Ladungstransport in photovoltaischen Materialien
| Probe | Perowskit-Film | Anzahl der Scans | 5 |
| Anregungswellenlänge | 405 nm | Anzahl der Punkte | 150 |
Vis-Beispiel – Ladungsübertragung zwischen Schichten aus 2D-Materialien
| Probe | Bulk-MoS₂ | Anzahl der Scans | 3 |
| Anregungswellenlänge | 515 nm | Datenpunkte | 150 |
NIR-Beispiel – Halbleiter mit schmaler Bandlücke und Absorption im angeregten Zustand
| Probe | Mehrschichtiger Graphit | Anzahl der Scans | 1 |
| Anregungswellenlänge | 495 nm | Datenpunkte | 150 |
TA-FL Ultraschnelle Fluoreszenzlebensdauer
Prinzip
Prinzip der FL-Upconversion
Prinzip von Kerr Gate
Spezifikationen *
FL-Upconversion
| Wellenlängenbereich der FL-Erkennung | 360 - 950 nm |
| Zeitfenster | 8 ns |
| IRF | ≤ 1,4-fache Impulsbreite |
| Erkennungsmodus | Kinetischer Scan mit einer Wellenlänge |
| Breitband-Spektralscan | |
| Dynamische 3D-Erkennung |
Kerr-Tor
| Spektralbereich | 355 nm - 1100 nm |
| Pumpensortiment | 315 - 2600 nm |
| Zeitliche Auflösung | ≤ 1 Pt |
| Zeitfenster | 8 ns |
| Spektrale Auflösung | 0,4 nm |
| Erfassungsmodus | Übertragung / Reflexion |
Beispieldaten
FL-Upconversion – Forschung zum ultraschnellen FL in Farbstoffmolekülen
| Probe | RhB | Anzahl der Scans | 3 |
| Anregungswellenlänge | 515 nm: 10 MW | Fluoreszenzbereich | 530 nm - 750 nm |
Kerr Gate – Ultraschnelle FL-Kinetik von Pterostilben
| Probe | Pterostilben | Anzahl der Scans | 3 |
| Anregungswellenlänge | 345 nm: 2 MW | Punkte sammeln | 150 |
| Fluoreszenzbereich | 355 nm - 460 nm | Expositionszeit | 6 s |
TA-MICRO Ultraschnelle mikroskopische Bildgebung
Spezifikationen
Mikroskopisches Kinetik-Bildgebungsmodul
| Modus | Mikrospektroskopische Erfassung / Weitfeld-TA-Bildgebung / Trägermigrationsbildgebung |
| Räumliche Auflösung | < 500 nm |
| Wellenlängenbereich der Kamera | 400 - 800 nm |
| 900 - 1700 nm (NIR) | |
| Genauigkeit der Carrier-Migration | < 50 nm |
| Objektiv | 10 ×, 40 ×, 50 ×, 100 × |
Beispieldaten
Mikroskop TA
Mikrobereichs-Übertragungstest
| Probe | WS₂ |
| Anregungswellenlänge | 515 nm |
| Sondenwellenlänge | 500-850 nm |
Mikrobereichs-Reflexionstest
| Probe | Monoschicht WS₂ (Substrat: Si) |
| Anregungswellenlänge | 515 nm |
| Sondenwellenlänge | Sichtbar |
Mikrozonen-TA-Bildgebung: Räumliche Verteilung von TA-Signalen in Mikro-/Nanoproben
Weitfeld-TA-Bildgebung
| Probe | WS₂ |
| Anregungswellenlänge | 515 nm |
| Sondenwellenlänge | 610 nm |
Nahinfrarot-Bildgebung
| Probe | WS₂ |
| Anregungswellenlänge | 515 nm |
| Sondenwellenlänge | 900 nm |
Trägerdiffusionsdatendiagramm
| Probe | F₁₆CuPc |
| Anregungswellenlänge | 650 nm |
| Sondenwellenlänge | 510 nm |
TA-NANO Nanosekunden-Transientenabsorption
Spezifikationen
Hauptsächlich
| Modus | Umschaltbarer Transmissions-/Reflexionsmodus |
| Wellenlängenbereich | 360 - 1700 nm |
| Zeitfenster | ≤ 400 μs |
| Auflösung der Erkennungszeit | 8 ns (elektrisch gepumpt), 1 ns (optisch gepumpt) |
| Empfindlichkeit | ≤ 0,2 mOD |
| Referenzmodul | Zusätzliches Datenerfassungs- und Spektraldetektionssystem |
| Eliminiert das Weißlicht-Jitter-Rauschen der Sonde | |
| Hohes SNR und hohe Erfassungseffizienz |
Nanosekunden-Superkontinuum-Weißlichtlaser
| Spektralbereich | 350 - 1800 nm |
| Pulsbreite / Wiederholungsrate | ~ 800 ps, 2 kHz |
| Leistungsstabilität | ± 1 % |
| Gesamte durchschnittliche optische Leistung | > 5 mW |
Erweiterungsmodul für elektrische Pumpen
| Maximale Spannung | 0 - 7 V (50 Ω) |
| Pulsbreite | 10 ns - 990 ms |
| Wiederholungsrate | 1 Hz - 1 MHz |
| Anstiegszeit des elektrischen Impulses von 0 auf 5 V | ≤ 390 μs |
Beispieldaten
Nanosekunden-TA-Test
| UV-Vis-Beispiel | ||
| Probe | SiC | |
| Anregungswellenlänge | 343 nm | |
| Sondenwellenlänge | 400 - 1000 nm | |
NIR-Beispiel
| Probe | PbS |
| Anregungswellenlänge | 343 nm |
| Sondenwellenlänge | 1100 - 1700 nm |
VERÖFFENTLICHUNG
Qian Li, Lingchen Kong, Le Mei, Shanchao Ouyang, Yiwen Ji, Baobing Fan, Huanhuan Gao, [...], Francis R. Lin und Alex K.-Y. Jen
Jiale Liu, Xiayan Chen, Kaizhong Chen, Wenming Tian, Yusong Sheng, Bin She, Youyu Jiang, Deyi Zhang, Yang Liu, [...] und Hongwei Han
Xiaofan Wei, Zihan Wang, Ziyu Wang, Yue Lu, Qingqing Ji*, Weimin Liu*
Jinyu Yang, Leyi Zhao, Zixuan Song, Jiamin Xiao, Lingyao Li, Guangjun Zhang, Wenxin Wang
Chiyu Guo, Chenghao Bi, Shibo Wei, Ke Ren, Xuexuan Huang, Liang Tao, Xingyu Wang, Nora H. de Leeuw, Wenxin Wang
Xukun Feng, Jiayu Tan, Xueqin Cao, Panpan Shao, Tao Han, Yue Wu, De Lu, Yixuan Zhou, Xiaobo Li, Yuanyuan Huang, Xinlong Xu
Liqiang Zhang, Yiliu Wang, Anshi Chu, Zhengwei Zhang, Miaomiao Liu, Xiaohua Shen, Bailing Li, Xu Li, Chen Yi, Rong Song, Yingying Liu, Xiujuan Zhuang, Xidong Duan
Junhan Xie, Wei Zhou, Haozheng Li, Ziyu Wang, Jiaming Jiang, Yile Zhang, Xiaoqin Shen, Zhijun Ning, Weimin Liu
Wei Zhang, Jie Kong, Rui Zhi An, Jiachen Zhang, Yujie Zhou, Lin-Song Cui, Meng Zhou
Geping Qu, Siyuan Cai, Ying Qiao, Deng Wang, Xihan Chen, Alex K.-Y Jen, ZongXiang Xu
Yuling Huang, Congcong Chen, Shaokuan Gong, Qiushi Hu, Jingjing Liu, Hongyu Chen, Lingling Mao, Xihan Chen
Qi Zou, Xuanying Chen, Yu Zhou, Xin Jin, Zhiyun Zhang, Jin Qiu, Rui Wang, Wenjing Hong, Jianhua Su, Da-Hui Qu, He Tian
Wei Zhang, Shuai Li, Yujie Gong, Jiachen Zhang, Yujie Zhou, Jie Kong, Hongbing Fu, Meng Zhou
Zhi-Bin Fang, Ting-Ting Liu, Junxue Liu, Shengye Jin, Xin-Ping Wu, Xue-Qing Gong, Kecheng Wang, Qi Yin, Tian-Fu Liu, Rong Cao, Hong-Cai Zhou
Yalan Zhang, Peijun Wang, Ming-Chun Tang, Dounya Barrit, Weijun Ke, Junxue Liu, Tao Luo, Yucheng Liu, Tianqi Niu, Detlef-M Smilgies, Zhou Yang, Zhike Liu, Shengye Jin, Mercouri G. Kanatzidis, Aram Amassian, Shengzhong Frank Liu, Kui Zhao
Xiao Luo, Runchen Lai, Yulu Li, Yaoyao Han, Guijie Liang, Xue Liu, Tao Ding, Junhui Wang, Kaifeng Wu
Hongzhi Zhou, Yida Zhao, Weijian Tao, Yujie Li, Qiaohui Zhou, Haiming Zhu
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