Zスキャンシステム
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Z-スキャン システムの

可用性:
ZTS100 は、Z 軸スキャンを通じて非線形吸収/屈折を測定します。非線形係数を正確に決定するための、ジッター防止デュアルチャネル設計によるクローズド/オープンアパーチャ検出を備えています。
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製品の特徴


  • 精密ステージ: 分解能0.1μm、再現性<2μm。

  • 幅広い検出: 350 ～ 1700nm パワーメーター (50nW ～ 40mW)。

  • アンチジッター: デュアルチャンネル基準補償。



仕様


精密光学式変位ステージ

スピード 30mm/秒
最小解像度 0.1μm
再位置決め精度 < 2μm


パワーディテクタ

試験波長 350～1700nm
電力試験範囲 50nW～40mW
デバウンス デュアルチャンネル基準信号の同時取得



応用


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革新的で信頼性が高く、スケーラブルなソリューションを提供することで、業界が比類のない精度と効率を達成できるようにし、世界中の研究と製造の進歩を推進します。

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