Sistema de digitalização Z

O ZTS100 mede absorção/refração não linear por meio de varredura no eixo z. Possui detecção de abertura fechada/aberta com design de canal duplo anti-jitter para determinação precisa do coeficiente não linear.

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Estágio de precisão: resolução de 0,1μm, repetibilidade <2μm.
Detecção ampla: medidor de potência de 350-1700nm (50nW-40mW).
Anti-jitter: Compensação de referência de canal duplo.

Ao fornecer soluções inovadoras, confiáveis e escaláveis, capacitamos as indústrias a alcançar precisão e eficiência incomparáveis, impulsionando o progresso na pesquisa e na fabricação em todo o mundo.

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Velocidade	30mm/s
Resolução mínima	0,1 μm
Precisão de reposicionamento	< 2 μm

Comprimento de onda de teste	350-1700 nm
Faixa de teste de potência	50 nW-40 mW
Debounce	Aquisição simultânea de sinais de referência de canal duplo