Sistema de digitalização Z
Lar » Produtos » Série Óptica Não Linear » ZTS100 - Varredura Z » Sistema Z-scan

carregando

do sistema Z-scan :

Disponibilidade
O ZTS100 mede absorção/refração não linear por meio de varredura no eixo z. Possui detecção de abertura fechada/aberta com design de canal duplo anti-jitter para determinação precisa do coeficiente não linear.
Pergunte

Recurso de produtos
Especificações
Aplicativo
Download


Recurso de produtos


  • Estágio de precisão: resolução de 0,1μm, repetibilidade <2μm.

  • Detecção ampla: medidor de potência de 350-1700nm (50nW-40mW).

  • Anti-jitter: Compensação de referência de canal duplo.



Especificações


Estágio de deslocamento óptico de precisão

Velocidade 30mm/s
Resolução mínima 0,1 μm
Precisão de reposicionamento < 2 μm


Detector de energia

Comprimento de onda de teste 350-1700 nm
Faixa de teste de potência 50 nW-40 mW
Debounce Aquisição simultânea de sinais de referência de canal duplo



Aplicativo


微信截图_20250324235020



Ao fornecer soluções inovadoras, confiáveis ​​e escaláveis, capacitamos as indústrias a alcançar precisão e eficiência incomparáveis, impulsionando o progresso na pesquisa e na fabricação em todo o mundo.

Categoria de produto

Links rápidos

Informações de contato
Tel: +1(888)-510-0926
Mantenha contato
Mantenha contato
Direitos autorais © 2025 Time Tech Spectra. Todos os direitos reservados.｜ Mapa do site | política de Privacidade