Sistema de escaneo Z

ZTS100 mide la absorción/refracción no lineal mediante el escaneo del eje z. Presenta detección de apertura cerrada/abierta con diseño de doble canal anti-jitter para una determinación precisa del coeficiente no lineal.

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Característica de productos

Etapa de precisión: resolución de 0,1 μm, repetibilidad <2 μm.
Amplia detección: medidor de potencia de 350-1700 nm (50 nW-40 mW).
Anti-jitter: Compensación de referencia de doble canal.

Al ofrecer soluciones innovadoras, confiables y escalables, permitimos a las industrias lograr una precisión y eficiencia incomparables, impulsando el progreso en la investigación y la fabricación en todo el mundo.

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Velocidad	30 mm/s
Resolución mínima	0,1 µm
Precisión de reposicionamiento	< 2 micras

Longitud de onda de prueba	350-1700 nanómetro
Rango de prueba de potencia	50 nW-40 mW
rebote	Adquisición simultánea de señales de referencia de doble canal.